[發(fā)明專利]一種錯(cuò)誤檢測(cè)方法及電子設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510330664.9
• 申請(qǐng)日: 2015-06-15
• 公開（公告）號(hào): CN104991833B
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張錦本;周尚諺
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 聯(lián)想（北京）有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/08
• 分類號(hào): G06F11/08
• 代理公司: 北京金信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11225
• 代理人: 黃威,王智

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域，尤其涉及一種錯(cuò)誤檢測(cè)方法及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中在進(jìn)行ECC(Error Correcting Code，中文全稱：錯(cuò)誤檢查和糾正)數(shù)據(jù)校驗(yàn)時(shí)，校驗(yàn)算法通常設(shè)計(jì)為每讀取256數(shù)據(jù)進(jìn)行一次ECC數(shù)據(jù)校驗(yàn)，針對(duì)256位數(shù)據(jù)的校驗(yàn)算法，需要32位數(shù)據(jù)來做ECC數(shù)據(jù)校驗(yàn)。在計(jì)算機(jī)只有一根內(nèi)存條DIMM(Dual-Inline-Memory-Modules，中文全稱：雙列直插式存儲(chǔ)模塊)的情況下，由于DIMM提供64位的數(shù)據(jù)通道，則計(jì)算機(jī)需要對(duì)DIMM進(jìn)行4次讀寫，才能寫入256位數(shù)據(jù)，進(jìn)而完成一次ECC校驗(yàn)。

但本申請(qǐng)發(fā)明人在實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)實(shí)施例中發(fā)明技術(shù)方案的過程中，發(fā)現(xiàn)上述技術(shù)至少存在如下技術(shù)問題：

現(xiàn)有技術(shù)中，由于進(jìn)行一次ECC數(shù)據(jù)校驗(yàn)需要256位數(shù)據(jù)，則需要對(duì)DIMM進(jìn)行4次讀寫，可見，現(xiàn)有技術(shù)中存在，完成一次ECC數(shù)據(jù)校驗(yàn)的時(shí)間較長(zhǎng)的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種錯(cuò)誤檢測(cè)方法及電子設(shè)備，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的完成一次ECC數(shù)據(jù)校驗(yàn)的時(shí)間較長(zhǎng)的技術(shù)問題。

一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種錯(cuò)誤檢測(cè)方法，包括：

獲取128位數(shù)據(jù)，及根據(jù)第一校驗(yàn)和算法生成的與獲取的數(shù)據(jù)相關(guān)的12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第一校驗(yàn)和算法對(duì)所述獲取的數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成12位第二校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

將所述第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)和所述第二校驗(yàn)和數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，獲得比較結(jié)果，其中，若所述比較結(jié)果表明所述第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)與所述第二校驗(yàn)和數(shù)據(jù)不同，則所述獲取的數(shù)據(jù)中存在發(fā)生錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。

可選的，所述獲取128位數(shù)據(jù)，及根據(jù)第一校驗(yàn)和算法生成的與獲取的數(shù)據(jù)相關(guān)的12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)，具體包括：

將128位數(shù)據(jù)寫入電子設(shè)備的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)區(qū)域中，根據(jù)所述第一校驗(yàn)和算法對(duì)寫入的128位數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成所述12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；并將從所述存儲(chǔ)區(qū)域中讀取出的128位數(shù)據(jù)作為獲取的數(shù)據(jù)；或

接收另一電子設(shè)備發(fā)送的128位數(shù)據(jù)和所述12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)，其中，所述12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)為所述另一電子設(shè)備根據(jù)所述第一校驗(yàn)和算法對(duì)需要向所述電子設(shè)備發(fā)送的128位數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成的校驗(yàn)和數(shù)據(jù)。

可選的，所述將128位數(shù)據(jù)寫入電子設(shè)備的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)區(qū)域中，具體為：

將所述128位數(shù)據(jù)寫入所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)單元中的32個(gè)單片器件，其中，所述單片器件包括4個(gè)比特位。

可選的，根據(jù)所述第一校驗(yàn)和算法對(duì)寫入的128位數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成所述12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)，具體包括：

分別對(duì)所述32個(gè)單片器件中的32個(gè)第一比特位，32個(gè)第二比特位、32個(gè)第三比特位和32個(gè)第四比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第一組4位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述32個(gè)單片器件中第一組4個(gè)單片器件的16個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第二組的第1位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述32個(gè)單片器件中第二組4個(gè)單片器件，第三組4個(gè)單片器件，第四組4個(gè)單片器件，第五組4個(gè)單片器件中的64個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第二組的第2位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述32個(gè)單片器件中第四組4個(gè)單片器件，第五組4個(gè)單片器件，第六組4個(gè)單片器件，第七組4個(gè)單片器件中的64個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第二組的第3位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述32個(gè)單片器件中第三組4個(gè)單片器件，第五組4個(gè)單片器件，第七組4個(gè)單片器件，第八組4個(gè)單片器件中的64個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第二組的第4位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述第一組4個(gè)單片器件至所述第八組4個(gè)單片器件中的8個(gè)第一單片器件中的32個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第三組第1位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述第一組4個(gè)單片器件至所述第八組4個(gè)單片器件中的8個(gè)第二單片器件中的32個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第三組第2位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述第一組4個(gè)單片器件至所述第八組4個(gè)單片器件中的8個(gè)第三單片器件中的32個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第三組第3位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)；

對(duì)所述第一組4個(gè)單片器件至所述第八組4個(gè)單片器件中的8個(gè)第四單片器件中的32個(gè)比特位進(jìn)行校驗(yàn)和計(jì)算，生成第三組第4位校驗(yàn)和數(shù)據(jù)。

可選的，在獲取根據(jù)第一校驗(yàn)和算法生成的與獲取的數(shù)據(jù)相關(guān)的12位第一校驗(yàn)和數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：