[發(fā)明專利]一種斬波式直流電流檢測方法及電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510324358.4 | 申請日: | 2015-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN104991115B | 公開(公告)日: | 2017-12-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 彭騫;胡國鋒;嚴運思;沈亞非;陳凱 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢精測電子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R19/25 | 分類號: | G01R19/25 |
| 代理公司: | 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙)42224 | 代理人: | 黎慧華 |
| 地址: | 430070 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 斬波式 直流 電流 檢測 方法 電路 | ||
技術(shù)領域
本發(fā)明屬于直流電流檢測技術(shù)領域,更具體地,涉及一種斬波式直流電流檢測方法及電路。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的直流電流檢測方法是在母線上串聯(lián)分流電阻,通過檢測分流電阻的端電壓來檢測流過該分流電阻的電流;當母線電流較小時,分流電阻的端電壓信號較小,必須經(jīng)過放大器進行信號調(diào)理;受限于現(xiàn)有信號調(diào)理器件的噪聲影響,當電流極小時,信噪比極低,導致信號失真,很難準確地檢測出電流值;具體的,信號失真主要受以下因素影響:
放大器的噪聲,濾波器很難處理放大器件的低頻噪聲;而恰恰是低頻噪聲對直流信號的檢測影響最大;
放大器的失調(diào)電壓,放大器的失調(diào)電壓取決于器件內(nèi)部晶體管的匹配、器件有限的共模抑制比;
溫度變化,當工作環(huán)境溫度變化時,直流檢測電路的噪聲和失調(diào)電壓等參數(shù)都會隨溫度發(fā)生變化,難以通過定期校準的方法來規(guī)避誤差。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的以上缺陷或改進需求,本發(fā)明提供了一種斬波式直流電流檢測方法及電路,其目的在于,消除低頻噪聲和失調(diào)電壓對檢測結(jié)果的影響,解決現(xiàn)有直流電流檢測技術(shù)中信號失真的技術(shù)問題。
為實現(xiàn)上述目的,按照本發(fā)明的一個方面,提供了一種斬波式直流電流檢測方法,通過分時采集分流電阻兩端的正向電壓與反向電壓,并通過對該正向電壓與反向電壓相減后求平均的方式,獲取直流電壓檢測值,具體如下:
(1)在第n個斬波周期的上半個周期內(nèi),采集分流電阻兩端的正向電壓Vout1;其中,Vout1=Vsig+Vos,n取正整數(shù);
(2)在第n個斬波周期的下半個周期內(nèi),采集分流電阻兩端的反向電壓Vout2;其中,Vout2=-Vsig+Vos;
(3)將上半個斬波周期的正向電壓Vout1與下半個斬波周期的反向電壓Vout2進行運算,抵消掉所述正向電壓與反向電壓中的電壓噪聲,獲取分流電阻兩端的直流電壓檢測值V:
(4)根據(jù)分流電阻兩端的直流電壓檢測值V與分流電阻的阻值R,獲取直流電流檢測值;
(5)重復步驟(1)~(4),實時獲取直流電流檢測值;
其中,Vsig是擬檢測直流電壓信號的實際值,Vos是低頻噪聲、失調(diào)電壓以及溫度變化引起的電壓噪聲,是時間t和溫度T的函數(shù),Vos=f(t,T);通過上述方法,消除低頻噪聲、失調(diào)電壓以及溫度變化引起的電壓噪聲對檢測結(jié)果的影響,取得的直流電壓檢測值就是該電壓的實際值。
優(yōu)選的,采集分流電阻兩端正向電壓與反向電壓的方法,具體如下:
a、在第n個斬波周期的上半個周期,將分流電阻的近電源端信號接入放大器的同相輸入端,將分流電阻的近負載端信號接入放大器的反相輸入端,完成正向電壓接入;
b、延時xms后開始采集所述正向電壓,根據(jù)預設的采樣頻率,在半個斬波周期內(nèi)采集i次;以i次采樣的平均值作為該半個斬波周期內(nèi)采集到的正向電壓值Vout1;其中,i取正整數(shù);
c、采集次數(shù)達到i后,在第n個斬波周期的下半個周期,將分流電阻的近電源端端信號接入放大器的反相輸入端,將分流電阻的近負載端信號接入放大器的同相輸入端,完成反向電壓接入;
d、延時xms后開始采集所述反向電壓,根據(jù)預設的采樣頻率,在半個斬波周期內(nèi)采集i次;以i次采樣的平均值作為該半個斬波周期內(nèi)采集到的反向電壓值Vout2。
優(yōu)選的,上述延時x的范圍為(0,kt);其中,0時刻為開關切換時刻,k是Vout(k)-Vout(k-1)≤ε時對應的采樣次數(shù);ε為預設的電壓測試誤差許可范圍,t為采樣周期;
Vout(k)是指第k個采樣值;在正向電壓采集中,Vout(k)即為Vout1(k),在反向電壓采集中,Vout(k)即為Vout2(k)。
優(yōu)選的,斬波頻率根據(jù)電壓噪聲特性確定,當在Δt時間段內(nèi)的電壓噪聲幅度變化小于預設的電壓測試誤差許可范圍ε,則斬波頻率f設為
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢精測電子技術(shù)股份有限公司,未經(jīng)武漢精測電子技術(shù)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510324358.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種掃頻陣列校準方法
- 下一篇:應用于高頻開關電源中的過零檢測電路





