[發明專利]磁共振斷層成像設備有效
| 申請號: | 201510299920.2 | 申請日: | 2015-06-03 |
| 公開(公告)號: | CN105266810B | 公開(公告)日: | 2019-04-05 |
| 發明(設計)人: | A.基法爾 | 申請(專利權)人: | 西門子公司 |
| 主分類號: | A61B5/055 | 分類號: | A61B5/055;G01R33/56;G01R33/54 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 謝強;熊雪梅 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁共振 斷層 成像 設備 | ||
本發明涉及一種用于借助電磁脈沖序列(103)產生磁場中的檢查對象(101)的斷層成像數據的磁共振斷層成像設備(100),具有用于存儲參考檢查對象(101)的參考斷層成像數據的存儲器(105);用于借助脈沖序列(103)產生參考檢查對象(101)的斷層成像數據的測量裝置(107);和用于通過調整脈沖序列(103)的物理參數減小在斷層成像數據和參考斷層成像數據之間的偏差的調整裝置(109)。
技術領域
本發明涉及一種用于借助脈沖序列產生磁場中的檢查對象的斷層成像數據的磁共振斷層成像設備和一種用于設置磁共振斷層成像設備的方法。
背景技術
為了規劃和參數化磁共振檢查(MR檢查),在目前的磁共振斷層成像設備中存在大量設置參數(每測量過程大約700個相關的參數),其對激勵特性和磁共振測量的最終結果產生影響。
在軟件版本更換、系統更換或系統變化的情況下幾乎不可能確定,磁共振斷層成像設備的新的設置是否反映了磁共振斷層成像設備的前面的激勵特性。因此在磁共振斷層成像設備的這種技術變化之后試圖這樣設置新的設置參數,使得其再次與原始的設置參數一致。
新的設置參數的一致性意味著,其不互相排斥或影響。但是該過程會導致與系統變化之前完全不同的物理激勵特性和不同的測量結果。在重新設置的情況下的基本原理是,這樣選擇物理輸入參數(諸如激勵或磁場)的影響,使得產生的圖像與檢查相應并且能夠進行醫學診斷。
序列開發者,也稱為參數化者(Parametrisierer),因此對于磁共振斷層成像設備的硬件或軟件的每個變化手動地檢查激勵特性和測量結果,例如通過受試者測量。這一點實現如下目的,即,手動地再次這樣更新并且改變此前自動調整的、一致的設置參數,使得激勵特性和測量結果相應于在系統變化之前的激勵特性和測量結果。
該方法是麻煩的并且容易出現錯誤,因為參數化者必須具有關于設置參數的精確概況,以便能夠評估自動執行的變化并且估計,自動設置的設置參數對激勵特性和測量結果產生了哪些影響。
發明內容
本發明要解決的技術問題是,提供一種磁共振斷層成像設備和一種用于設置磁共振斷層成像設備的方法,通過該方法在磁共振斷層成像設備的技術變化之后能夠更快速且更簡單地進行參數的設置。
上述技術問題通過具有根據本發明的特征的技術方案來解決。本發明的優選實施方式是附圖、說明書和從屬權利要求的內容。
按照本發明的第一方面,上述技術問題通過用于借助脈沖序列產生磁場中的檢查對象的斷層成像數據的磁共振斷層成像設備來解決,所述設備具有用于存儲參考檢查對象的參考斷層成像數據的存儲器;用于借助脈沖序列產生參考檢查對象的斷層成像數據的測量裝置;和用于通過調整(Anpassen)脈沖序列的物理參數減小在斷層成像數據和參考斷層成像數據之間的偏差的調整裝置(Anpassungseinrichtung)。由此實現如下技術優點,即,在技術變化之后實現磁共振斷層成像設備的快速且簡單的再次啟動。一直調整并且改變脈沖序列,直至獲得的參考檢查對象的斷層成像數據相應于預先存儲的參考檢查對象的參考斷層成像數據。
在磁共振斷層成像設備的優選的實施方式中,參考斷層成像數據和斷層成像數據是位置頻率空間的元素。由此例如實現如下技術優點,即,可以棄用傅里葉變換并且可以以較小的計算開銷進行調整。
在磁共振斷層成像設備的另一種優選的實施方式中,參考斷層成像數據和斷層成像數據是位置空間的元素。由此例如實現如下技術優點,即,實現位置空間中的良好一致,也就是在系統變化之前和之后的斷層成像圖像中的良好一致。
在磁共振斷層成像設備的另一種優選的實施方式中,物理參數是在脈沖序列的兩個脈沖之間的脈沖間隔。由此例如實現如下技術優點,即,可以通過簡單實現的措施調整斷層成像數據。
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