[發明專利]一種平面顯示器面板均勻度檢測方法及其系統

在審

• 申請號: 201310186009.1
• 申請日: 2013-05-20
• 公開（公告）號: CN104166250A
• 公開（公告）日: 2014-11-26
• 發明（設計）人: 王永吉;蘇泰源;張裕昇
• 申請（專利權）人: 冠捷投資有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01M11/02
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍

技術領域

本發明涉及一種檢測方法及其系統，特別是涉及一種平面顯示器面板均勻度檢測方法及其系統。

背景技術

隨著科技日新月異的發展及進步，人們對于視聽多媒體產品的要求越來越高，因此平面顯示器面板在尺寸上演進有越來越大的趨勢，而在尺寸變大的同時也希望能兼顧質量的提升。

有鑒于此，世界上許多國家都投入了大量的人力與資金進行顯示技術方面的研究，使得顯像技術快速的提升，然而在大量的市場需求下，工廠大量制造的同時，許多人為及制程因素上所造成的缺陷(例如常聽到的Mura缺陷)，造成的顯像亮度不均勻等問題都會使得產品質量大大下降，然而這些缺陷產生初期往往不易為人眼所察覺，因此便需要仰賴一套完整且精確的檢測系統，對液晶顯示器進行亮度均勻度及色彩的檢測，在產品缺陷產生初期便可準確檢測出缺陷位置與大小，對產品進行精密的檢測及控管，進而提高產品質量。

在常見的檢測方法中，主要將待測面板之發光面分成九個等份，并通過檢測裝置，如，BM-5A、BM-7A、CS-200O及CA-210其中一個檢測儀器來逐一檢測其輝度值及色度值，當需要檢驗的待測面板數量大時，使用此方式非常耗時且還需要添購相關檢測儀器，因而造成檢測成本提高，因此，有必要尋求解決方案。

發明內容

本發明的目的在于提供一種平面顯示器面板均勻度檢測方法。

本發明平面顯示器面板均勻度檢測方法，實現于一均勻度檢測系統，該均勻度檢測系統包括一畫面產生單元、至少一待測面板、一取像單元、一處理單元及一檢測單元，該檢測方法包含下列步驟:(A)該畫面產生單元依據一控制指令產生用于顯示在該待測面板的一待測畫面，其中，該待測畫面包括多個待測區及多個對照區，且每一待測區具有多個第一像素，每一對照區具有多個第二像素，所述第一像素的像素值均大于所述第二像素的像素值；（B）該取像單元拍攝該待測面板所顯示的該待測畫面，以產生一檢測畫面，其中，該檢測畫面包括多個檢測區及多個對照區，且該檢測畫面中每一檢測區為對應于該待測畫面中相同位置的待測區，該檢測畫面中每一對照區為對應于該待測畫面中相同位置的對照區；（C）該處理單元分別從該檢測畫面的每一檢測區中偵測出一最小像素值，及從該檢測畫面的其中一對照區中選定一像素并以其像素值作為一像素基準值；以及（D）該檢測單元在該檢測畫面中檢測是否至少存有一最小像素值小于該像素基準值，若是，則該檢測單元判定該待測面板為一亮度不均勻的面板。

本發明的平面顯示器面板均勻度檢測方法，在該步驟（A）之前還包含下列步驟：（E）該畫面產生單元產生用于顯示在該待測面板的一空白畫面，其中，該空白畫面中所有像素的像素值均相等；（F）該取像單元拍攝該待測面板所顯示的該空白畫面，以產生一待處理畫面，其中，該待處理畫面包括多個待處理區，且每一待處理區具有多個像素；（G）該處理單元從該待處理畫面中計算每一待處理區所有像素的像素平均值；以及（H）該檢測單元在該待處理畫面中比對每一待處理區的像素平均值是否大于一門坎值，并通過控制指令將對應于每一待處理區的比對結果傳送至該畫面產生單元。

本發明的平面顯示器面板均勻度檢測方法，在該步驟（A）中，該待測畫面的每一對照區為對應于在步驟（H）中比對結果為是的該待處理畫面中相同位置的待處理區，且該待測畫面的每一待測區為對應于在步驟（H）中比對結果為否的該待處理畫面中相同位置的待處理區。

本發明的平面顯示器面板均勻度檢測方法，該待處理畫面中的每一待處理區的面積均與該待測畫面的每一待測區及每一對照區的面積相同。

本發明的平面顯示器面板均勻度檢測方法，在該步驟（A）中，該待測畫面的每一第一像素的像素值為該待測面板規格的最高亮度所對應的灰階值，且該待測畫面的每一第二像素的像素值為該待測面板規格的最低亮度所對應的灰階值。

本發明的另一個目的在于提供一種平面顯示器面板均勻度檢測系統。