[發明專利]記錄裝置

有效

• 申請號: 201510097065.7
• 申請日: 2015-03-04
• 公開（公告）號: CN104890384B
• 公開（公告）日: 2019-06-11
• 發明（設計）人: 佐佐木恒之
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: B41J15/00
• 分類號: B41J15/00
• 代理公司: 北京金信知識產權代理有限公司 11225
• 代理人: 黃威;蘇萌萌

本發明提供一種記錄裝置，其對由于被記錄介質被斜行輸送而產生的不良情況進行抑制。所述記錄裝置具有：對被記錄介質(P)進行輸送的輸送部(9、14、15)；翹起檢測部(10)，其對被記錄介質(P)的翹起進行檢測，翹起檢測部(10)具有朝向被記錄介質(P)的不同的位置(Pa、Pb、Pc)而進行照射的多個發光元件(Ia、Ib、Ic)、以及能夠對從多個發光元件(Ia、Ib、Ic)照射出的反射光依次進行接收的一個受光元件(R)，所述翹起檢測部(10)能夠根據反射光的受光強度而對不同的位置(Pa、Pb、Pc)處的翹起進行檢測。

技術領域

本發明涉及一種記錄裝置。

背景技術

一直以來，使用了對被記錄介質進行輸送并進行記錄的記錄裝置。在這種結構的記錄裝置中，有時被記錄介質會被斜行輸送，從而產生了因被記錄介質被斜行輸送而導致的不良情況。因此，公開了抑制這樣的不良情況的技術。

例如，在專利文獻1中，公開了如下的結構，即，接收由發光部照射并由被記錄介質反射的可干涉性的光線，并根據由該反射光所產生的干涉圖案而對斜行量等進行計算的結構。

在上述的現有的記錄裝置中，作為對被記錄介質的斜行輸送進行檢測的檢測部，使用了由一個發光元件和一個受光元件構成的檢測部、或者具有多個由這樣的一個發光元件和一個受光元件構成的檢測單元的檢測部。

但是，由一個發光元件和一個受光元件組成的檢測部存在對被記錄介質的斜行輸送的檢測能力較低的情況。另外，對于具有多個由一個發光元件和一個受光元件構成的檢測單元的檢測部，在為了提高被記錄介質的斜行輸送的檢測能力而使該檢測單元接近配置時，從各個發光元件照射出的照射光會發生無法預料的干涉，進而出現誤檢測的情況。

因此，在現有的記錄裝置中，有時不能充分對由于被記錄介質的斜行輸送而引起的不良情況進行抑制。

專利文獻1：日本特開2003-205654號公報

發明內容

本發明的目的在于，對由于被記錄介質的斜行輸送而導致的不良情況進行抑制。

為了解決上述問題，本發明的第一種記錄裝置的特征在于，具有：輸送部，其對被記錄介質進行輸送；翹起檢測部，其對所述被記錄介質的翹起進行檢測，所述翹起檢測部具有能夠朝向所述被記錄介質的不同的位置而照射的多個發光元件、以及能夠對從多個所述發光元件照射出的反射光依次進行接收的一個受光元件，所述翹起檢測部能夠根據所述反射光的受光強度來對所述不同的位置處的所述翹起進行檢測。

根據本方式，所述翹起檢測部具有能夠朝向所述被記錄介質的不同的位置進行照射的多個發光元件、和能夠對從所述多個發光元件照射出的反射光依次進行接收的一個受光元件，并且所述翹起檢測部能夠對位于所述不同的位置處的所述翹起進行檢測。如此，由于能夠對所述被記錄介質的不同的位置處的翹起依次進行檢測，因此，能夠根據檢測出翹起的位置而對該翹起是否由斜行輸送所引起、若由斜行輸送所引起則正在朝向哪一方向斜行進行檢測。

本發明的第二種方式的記錄裝置的特征在于，在所述第一種方式中，所述翹起檢測部能夠在由所述輸送部輸送所述被記錄介質的輸送方向上的多處對所述不同的位置處的所述翹起進行檢測。

根據本方式，所述翹起檢測部能夠在所述輸送方向上的多處對所述不同位置處的所述翹起進行檢測。因此，能夠提高所述對被記錄介質的斜行輸送的檢測能力，并能夠有效地對由所述記錄介質被斜行輸送而導致的不良情況進行抑制。

本發明的第三種方式的記錄裝置的特征在于，在所述第一或者第二種方式中，所述翹起檢測部能夠在與由所述輸送部輸送所述被記錄介質的輸送方向交叉的交叉方向上的多處對所述不同的位置處的所述翹起進行檢測。