[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于組合規(guī)則約束的航天器測(cè)試數(shù)據(jù)提取方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201510082143.6
• 申請(qǐng)日: 2015-02-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104679856B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚志云;姜洋;張雷;劉鶴;凌瓊;矯軻;王大偉;趙陽(yáng);傅曉晶;羅榮蒸;梁瑞東
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京空間飛行器總體設(shè)計(jì)部
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/30
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/30
• 代理公司: 中國(guó)航天科技專(zhuān)利中心11009
• 代理人: 陳鵬

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種航天器測(cè)試數(shù)據(jù)采集方法，特別是一種基于組合規(guī)則約束的航天器測(cè)試數(shù)據(jù)提取方法。

背景技術(shù)

近年來(lái)，航天器設(shè)計(jì)水平和技術(shù)飛速發(fā)展，航天器的種類(lèi)和型譜不斷更新，現(xiàn)有航天器的功能也日趨復(fù)雜、工作模式繁多、設(shè)計(jì)指標(biāo)也不斷提升、航天器上的產(chǎn)品種類(lèi)也不斷更新、航天器分系統(tǒng)逐漸增多、系統(tǒng)功能也越來(lái)越復(fù)雜。隨著航天器設(shè)計(jì)的功能復(fù)雜化和指標(biāo)多樣化，對(duì)航天器的地面測(cè)試數(shù)據(jù)評(píng)估要求也大大提高。

在航天器綜合測(cè)試數(shù)據(jù)判讀中，經(jīng)常需要對(duì)同一測(cè)試狀態(tài)下的單機(jī)功能性能進(jìn)行比對(duì)判讀，還有針對(duì)不同測(cè)試階段同一測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試過(guò)程或測(cè)試事件的功能性能一致性及穩(wěn)定性進(jìn)行判讀，而這些面向目標(biāo)需求的測(cè)試數(shù)據(jù)都是按發(fā)生時(shí)間順序存儲(chǔ)在龐大的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)中。要解決這一任務(wù)需求的關(guān)鍵在于如何從海量的測(cè)試數(shù)據(jù)中準(zhǔn)確快速的提取有效目標(biāo)數(shù)據(jù)。目前，現(xiàn)有基本的數(shù)據(jù)提取方法是以時(shí)間為查詢(xún)條件，查詢(xún)形式一般為“時(shí)間t1到時(shí)間t2之間參數(shù)P的值”，這種查詢(xún)方式的特點(diǎn)是簡(jiǎn)單、直觀，但無(wú)法滿足快速便捷地定位與提取特定條件下的測(cè)試數(shù)據(jù)，如航天器在不同測(cè)試時(shí)間段同一測(cè)試狀態(tài)或過(guò)程的測(cè)試數(shù)據(jù)，往往需要通過(guò)人工判斷進(jìn)行目標(biāo)數(shù)據(jù)篩選，嚴(yán)重影響數(shù)據(jù)提取的完備性與快速性。因此，如何準(zhǔn)確、快速?gòu)臏y(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)中提取帶有復(fù)雜約束條件的目標(biāo)數(shù)據(jù)成為一個(gè)新課題，它是解決對(duì)航天器綜合測(cè)試長(zhǎng)時(shí)間中同一單機(jī)關(guān)鍵參數(shù)、測(cè)試過(guò)程或測(cè)試事件功能性能指標(biāo)一致性及穩(wěn)定性判讀的基礎(chǔ)技術(shù)，是實(shí)現(xiàn)后續(xù)航天器復(fù)雜任務(wù)過(guò)程測(cè)試數(shù)據(jù)深入判讀的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，直接影響測(cè)試有效性甚至影響衛(wèi)星研制進(jìn)度和流程。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明解決的技術(shù)問(wèn)題是：克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供了一種從航天器測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)的海量數(shù)據(jù)中準(zhǔn)確快速地篩選與提取目標(biāo)數(shù)據(jù)的一種基于組合規(guī)則約束的航天器測(cè)試數(shù)據(jù)提取方法。

本發(fā)明的技術(shù)解決方案是：一種基于組合規(guī)則約束的航天器測(cè)試數(shù)據(jù)提取方法，包括如下步驟：

(1)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)提取所需的起始時(shí)刻e、終止時(shí)刻f、起始前提項(xiàng)Gs、起始條件項(xiàng)Cs、起始延時(shí)項(xiàng)Ds、終止前提項(xiàng)Ge、終止條件項(xiàng)Ce和終止延時(shí)項(xiàng)De；所述起始條件項(xiàng)Cs、起始前提項(xiàng)Gs、終止前提項(xiàng)Ge、終止條件項(xiàng)Ce為測(cè)試數(shù)據(jù)一個(gè)或幾個(gè)特征屬性的取值范圍；所述起始延時(shí)項(xiàng)Ds、終止延時(shí)項(xiàng)De為測(cè)試數(shù)據(jù)中測(cè)試時(shí)刻特征屬性的偏移量；所述特征屬性包括測(cè)試時(shí)刻、測(cè)試指令、遙測(cè)參數(shù)代號(hào)；

(2)從測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)查詢(xún)起始時(shí)刻e與終止時(shí)刻f之間的測(cè)試數(shù)據(jù)并將滿足起始條件項(xiàng)Cs的測(cè)試時(shí)刻存到數(shù)組tmpSCTime；

(3)判斷tmpSCTime中測(cè)試時(shí)刻，如果測(cè)試時(shí)刻對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)滿足起始前提項(xiàng)Gs，則將該測(cè)試時(shí)刻存儲(chǔ)至數(shù)組STime，否則舍棄該測(cè)試時(shí)刻，遍歷數(shù)組tmpSCTime中測(cè)試時(shí)刻，計(jì)算數(shù)組STime中測(cè)試時(shí)刻的個(gè)數(shù)并將其作為終止時(shí)刻判斷次數(shù)N，其中數(shù)組STime中測(cè)試時(shí)刻為STime(i)，i＝1,2,3,…,N；

(4)以[STime(1),STime(2)]為時(shí)間區(qū)間，查詢(xún)?cè)摃r(shí)間區(qū)間中的測(cè)試數(shù)據(jù)并判斷，如果有測(cè)試數(shù)據(jù)滿足終止條件項(xiàng)Ce且該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻滿足終止前提項(xiàng)Ge，則將該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻依次存儲(chǔ)至數(shù)組ETime，否則舍棄STime(1)，然后以[STime(2),STime(3)]為時(shí)間區(qū)間，查詢(xún)?cè)摃r(shí)間區(qū)間中的測(cè)試數(shù)據(jù)并判斷，如果有測(cè)試數(shù)據(jù)滿足終止條件項(xiàng)Ce且該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻滿足終止前提項(xiàng)Ge，則將該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻依次存儲(chǔ)至數(shù)組ETime，否則舍棄STime(2)，重復(fù)上述過(guò)程直至以[STime(N-1),STime(N)]為時(shí)間區(qū)間，查詢(xún)?cè)摃r(shí)間區(qū)間中的測(cè)試數(shù)據(jù)并判斷，如果有測(cè)試數(shù)據(jù)滿足終止條件項(xiàng)Ce且該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻滿足終止前提項(xiàng)Ge，則將該測(cè)試時(shí)刻依次存儲(chǔ)至數(shù)組ETime，否則舍棄STime(N-1)，以[STime(N),終止時(shí)刻f]為時(shí)間區(qū)間，查詢(xún)?cè)摃r(shí)間區(qū)間中的測(cè)試數(shù)據(jù)并判斷，如果有測(cè)試數(shù)據(jù)滿足終止條件項(xiàng)Ce且該測(cè)試數(shù)據(jù)的測(cè)試時(shí)刻滿足終止前提項(xiàng)Ge，則將該測(cè)試時(shí)刻依次存儲(chǔ)至數(shù)組ETime，否則舍棄STime(N)，最后得到與數(shù)組ETime長(zhǎng)度相等的數(shù)組STime；

(5)數(shù)組STime中所有測(cè)試時(shí)刻減去起始延時(shí)項(xiàng)Ds進(jìn)行偏移得到新的數(shù)組STime，數(shù)組ETime中所有測(cè)試時(shí)刻加上終止延時(shí)項(xiàng)De進(jìn)行偏移得到新的數(shù)組ETime；

(6)將數(shù)組STime中第j個(gè)測(cè)試時(shí)刻作為查詢(xún)起始時(shí)刻，將數(shù)組ETime中第j個(gè)測(cè)試時(shí)刻作為查詢(xún)終止時(shí)刻提取測(cè)試數(shù)據(jù)，j＝1,2,3,…,M，其中M為數(shù)組ETime的長(zhǎng)度。

本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于：