[發明專利]一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法

在審

• 申請號: 201510073241.3
• 申請日: 2015-02-12
• 公開（公告）號: CN104713545A
• 公開（公告）日: 2015-06-17
• 發明（設計）人: 杜璧秀;米陽;張玉良
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01C21/00
• 分類號: G01C21/00;G01C21/20
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務所 22210
• 代理人: 南小平

技術領域

本發明屬于自動控制應用技術領域，具體涉及一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法。

背景技術

光電跟蹤測量設備是一種廣泛應用于靶場建設中的對空間飛行目標進行實時跟蹤的精密觀測設備，在國防建設中發揮著重要的作用。在靶場試驗任務中，最為常見的天氣狀況就是晴空當中夾雜著云層以及陰天云層密布，在這種情況下，目標時而會被遮擋，如果僅僅依靠光學成像技術對目標的識別來進行跟蹤的話，將是一件非常困難的事，由此也會錯失很多重要的測量數據。

參見附圖1，近年來，隨著科學技術的進步，理論彈道數據得到了逐步完善，使得以理論彈道數據為基準的理論彈道引導模式下的跟蹤成為了靶場光電跟蹤測量設備的主要跟蹤手段。但是，理論彈道數據畢竟只是預先設定好的、理論的飛行軌跡，在飛行末期和突發情況下，其實際飛行軌跡與理論彈道數據存在著一定的偏差，跟蹤誤差大，這就需要工作人員實時的對理論彈道數據進行修正，以保證光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的精密跟蹤。

發明內容

本發明的目的在于提出一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法，解決現有技術存在的跟蹤誤差大的問題，保證光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的精密跟蹤。

為實現上述目的，本發明的一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法為：光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的進行精密跟蹤時，通過對目標的實時觀測，不斷地運用手中的單桿實時的對理論彈道數據進行修正，在理論彈道引導數據中跟蹤目標位置的基礎上疊加了單桿積分修正量和單桿微分修正量，形成新的跟蹤目標位置。

所述的單桿補償方法具體包括以下步驟：

步驟一：光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的進行精密跟蹤，通過光學探測器探測飛行目標，并將飛行目標圖像實時顯示在顯示器上；

步驟二：實時觀察飛行目標圖像與預先設定好的飛行軌跡在屏幕上產生的偏差；

步驟三，根據步驟二中實時觀察到的偏差通過單桿實時對預先設定好的飛行軌跡進行快速修正，并記錄實時單桿值；

步驟四：分別對步驟三中的單桿值進行微分處理和積分處理，得到單桿微分修正量和單桿積分修正量；

步驟五：將預先設定好的飛行軌跡疊加步驟四中得到的單桿積分修正量和單桿微分修正量，形成飛行目標實際飛行軌跡。

本發明的有益效果為：本發明的一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法當光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的進行精密跟蹤過程中，光電跟蹤測量設備通過光學探測器探測到目標，并將目標圖像顯示于顯示器上。通常情況下，飛行目標都會偏離預先設定好的、理論的飛行軌跡，甚至偏出光學探測器視場，使得目標圖像從顯示器消失。這時，工作人員實時觀察顯示器中的目標圖像，目標一旦發生偏離，甚至脫離視場時，可以通過擺動單桿，并采用本技術發明中的方法，對飛行軌跡路線進行快速實時修正，從而保證了光電跟蹤測量設備對飛行目標的高精度跟蹤。這種技術投入小，易于操作，實施簡單，可以廣泛應用于靶場建設中的各種光電跟蹤測量設備。

附圖說明

圖1為現有技術中基于理論彈道引導模式下跟蹤的工作原理框圖；

圖2為本發明的一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法跟蹤的工作原理框圖；

圖3為采用本發明在實際跟蹤過程的跟蹤過程圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的實施方式作進一步說明。

參見附圖2，本發明的一種基于理論彈道引導模式下的單桿補償方法為：光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的進行精密跟蹤時，通過對目標的實時觀測，不斷地運用手中的單桿實時的對理論彈道數據進行修正，在理論彈道引導數據中跟蹤目標位置Location_Theory的基礎上疊加了單桿積分修正量DG_Integral和單桿微分修正量DG_Defferential，形成新的跟蹤目標位置Location_Reality。

所述的單桿補償方法具體包括以下步驟：

步驟一：光電跟蹤測量設備在理論彈道引導模式下對飛行目標的進行精密跟蹤，通過光學探測器探測飛行目標，并將飛行目標圖像實時顯示在顯示器上；

步驟二：實時觀察飛行目標圖像與預先設定好的飛行軌跡在屏幕上產生的偏差；

步驟三，根據步驟二中實時觀察到的偏差通過單桿實時對預先設定好的飛行軌跡進行快速修正，并記錄實時單桿值；

步驟四：分別對步驟三中的單桿值進行微分處理和積分處理，得到單桿微分修正量和單桿積分修正量；