[發明專利]基表測試裝置及其測試方法

有效

• 申請號: 201510063522.0
• 申請日: 2015-02-06
• 公開（公告）號: CN104677312B
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發明（設計）人: 馬占林
• 申請（專利權）人: 華立科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/27
• 分類號: G01B11/27
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及基表測試技術領域，特別是指一種基表測試裝置及其測試方法。

背景技術

隨著超聲波技術的成熟，目前熱量表和水表都在采用超聲波技術測量流量，而測量基表目前普遍采用的是立柱反射式測量方式，這種基表具有測量精度高等優點。但隨之對基表生產裝配工藝提出更高要求，否則測量將會產生很大偏差。目前常規檢驗方法只能通過游標卡尺等測量工具進行測量。由于基表的特殊性，有些關鍵參數根本無法測量，如兩個反射鏡面與水平面的反射角是否為45度，兩個反射鏡面的曲面平整度以及與基表管道的同軸度無法準確測量。

發明內容

本發明提出一種基表測試裝置及其測試方法，解決了現有技術中無法測量基表同軸度的問題。

本發明的技術方案是這樣實現的：

一種基表測試裝置，包括激光發生器、透明板以及被測基表，其中

所述被測基表倒置于所述透明板上；

所述被測基表具有兩個通孔，在所述通孔內分別設置有固定塊，且在所述固定塊上設有反射鏡面；

在其中一個所述通孔的入口端設有激光發生器，另一個所述通孔的入口端設有可接收激光的圖像傳感器。

作為優選的技術方案，兩個所述通孔內的反射鏡面均為45°反射鏡面，且對立設置。

作為優選的技術方案，所述激光發生器的工作面為圓形，且與所述通孔的入口端同心設置。

作為優選的技術方案，所述透明板為透明玻璃板。

作為優選的技術方案，所述圖像傳感器為感光耦合元件(charge-coupled device,CCD)或互補式金屬氧化物半導體有源像素傳感器(CMOS Active pixel sensor)。

作為優選的技術方案，所述圖像傳感器還連接有顯示器。

一種基表測試方法，包括：

倒置被測基表至透明板上；

用固定塊將激光發生器與所述被測基表的一側反射鏡面的入口端定位好，保證激光發生器的工作面與反射鏡面入口端同心；

預先設定好測量上限和測量下限；

接通電源，使激光束經過兩個45°反射鏡面反射垂直照射到圖像傳感器上，通過圖像傳感器轉換為電信號成像在顯示器上。

本發明的基表測量裝置能夠測量基表同軸度的問題，彌補了現有技術的缺陷，而且操作方便，準確，直觀；設備投入成本低，利于市場化推廣應用。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施方案或現有技術中的技術方案，下面將對實施方案或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施方案，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明一種基表測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明一種基表測試裝置的合格基表的結構示意圖；

圖3為本發明一種基表測試裝置的不合格基表的測量圖；

圖4為本發明一種基表測試裝置的合格基表測量成像圖；

圖5為本發明一種基表測試裝置的不合格基表測量成像圖。

其中：

1-被測基表、2-反射鏡面、3-激光束、4-激光發生器、5-透明板、6-圖像傳感器、7-測量上限、8-激光光柱投影(實際測量值)、9-測量下限。

具體實施方式

下面將對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。