[發(fā)明專利]檢測彩膜表面形貌的方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510050787.7
• 申請日: 2015-01-30
• 公開（公告）號: CN104596441B
• 公開（公告）日: 2017-12-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郭楊辰;袁劍峰
• 申請（專利權(quán)）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01J3/46
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11262
• 代理人: 張京波,曲鵬

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種檢測彩膜表面形貌的方法及裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有技術(shù)中，分光光度計可以用于對單色亞像素的色度值檢測。如圖1所示，該分光光度計包括白色點光源、用于控制白色點光源的發(fā)光與移動的光源模塊、探頭以及與探頭相連的光譜儀，其色度值檢測原理如下所述：將分光光度計的白色點光源置于單色亞像素的一側(cè)，并在另一側(cè)以探頭接收透過單色亞像素的光線，從而得到該單色亞像素的透射光譜，根據(jù)透射光譜中的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算即可得到與每一單色亞像素對應(yīng)的色度值。

然而，現(xiàn)有技術(shù)在測量色度值時通常對準單色亞像素的中心點，并沒有包含每一單色亞像素表面形貌的信息。而為了獲取每一單色亞像素表面形貌的信息，現(xiàn)有技術(shù)通常需要采用膜厚測量儀來進行實際測量。但這一測量方式不僅需要額外占用測試人員用大量時間和精力，同時還由于人工標定過程存在主觀因素等問題導(dǎo)致測量結(jié)果存在很大的誤差。

發(fā)明內(nèi)容

針對現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明提供一種檢測彩膜表面形貌的方法及裝置，可以實現(xiàn)單色亞像素的色度值和表面形貌信息的同時測量。

第一方面，本發(fā)明提供了一種檢測彩膜表面形貌的裝置，包括相對設(shè)置的光源和光線探測器；

該裝置還包括：

第一導(dǎo)軌；

可沿第一導(dǎo)軌移動的底座；

固定在所述底座上、延伸方向與所述第一導(dǎo)軌平行的第二導(dǎo)軌；

所述光線探測器與所述第二導(dǎo)軌相連，并可沿所述第二導(dǎo)軌延伸方向移動；

所述第一導(dǎo)軌上設(shè)有用于使所述底座上的第二導(dǎo)軌與彩膜基板上的每一單色亞像素對齊的多個第一固定點；

所述第二導(dǎo)軌上設(shè)有用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一單色亞像素中多個位置點的多個第二固定點。

可選地，所述多個第二固定點包括用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一單色亞像素邊緣處的位置點的第二固定點，以及用于使所述光線探測器對準彩膜基板上每一單色亞像素中心處位置點的第二固定點。

可選地，該裝置還包括：

檢測單元，用于基于所述第一導(dǎo)軌、所述底座、所述第二導(dǎo)軌以及所述相對設(shè)置的光源和光線探測器對彩膜基板上任一單色亞像素中的多個位置點進行檢測；

第一計算單元，用于根據(jù)來自所述檢測單元的檢測結(jié)果計算所述單色亞像素的彩膜在每一所述位置點處的色度值；

第二計算單元，用于根據(jù)預(yù)先設(shè)定的色度值-膜厚關(guān)系由所述第一計算單元得到的每一所述位置點處的色度值計算每一所述位置點處的彩膜膜厚；

第三計算單元，用于根據(jù)所述第二計算單元得到的每一所述位置點處的彩膜膜厚獲取所述單色亞像素的彩膜的表面形貌信息。

可選地，所述第三計算單元進一步用于根據(jù)所述第二計算單元得到的每一所述位置點處的彩膜膜厚計算所述彩膜的角段差。

可選地，每一單色亞像素中的所述多個位置點均以相同方式設(shè)置；

所述第四計算單元包括：

第一計算模塊，用于計算所有顏色相同的單色亞像素中每一所述位置點處的彩膜膜厚的平均值；

第二計算模塊，用于根據(jù)所述第一計算模塊得到的彩膜膜厚的平均值計算所有所述顏色相同的單色亞像素的彩膜的角段差。

可選地，該裝置還包括：

預(yù)檢測單元，用于在第一計算單元計算色度值之前，基于所述第一導(dǎo)軌、所述底座、所述第二導(dǎo)軌以及所述相對設(shè)置的光源和光線探測器對彩膜基板中除彩膜圖案之外的至少部分區(qū)域進行檢測；

所述第一計算單元進一步用于將來自所述預(yù)檢測單元的所述至少部分區(qū)域的檢測結(jié)果作為本底成分在來自所述檢測單元的每一所述位置點的檢測結(jié)果中去除，并根據(jù)去除后的檢測結(jié)果計算彩膜在每一位置點處的色度值。

第二方面，本發(fā)明還提供了一種檢測彩膜表面形貌的方法，包括：

基于分光光度法對彩膜基板上任一單色亞像素中的多個位置點進行檢測；

根據(jù)每一所述位置點的檢測結(jié)果計算該單色亞像素的彩膜在每一所述位置點處的色度值；

根據(jù)預(yù)先設(shè)定的色度值-膜厚關(guān)系由每一所述位置點處的色度值計算每一所述位置點處的彩膜膜厚；

根據(jù)每一位置點處的彩膜膜厚獲取該單色亞像素的彩膜的表面形貌信息。

可選地，所述根據(jù)每一位置點處的彩膜膜厚獲取該單色亞像素的彩膜的表面形貌信息，包括：

根據(jù)該單色亞像素中多個位置點處的彩膜膜厚計算角段差。

可選地，每一單色亞像素中的所述多個位置點均以相同方式設(shè)置；