[發明專利]一種超級電容的測試方法

有效

• 申請號: 201510041980.4
• 申請日: 2015-01-27
• 公開（公告）號: CN104614609B
• 公開（公告）日: 2017-06-27
• 發明（設計）人: 王曉澎
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司37100
• 代理人: 姜明

1.一種超級電容的測試方法，其特征在于，包括測試電路，該測試電路包括連接待測電容的控制電路、與控制電路連接的反饋電路和微處理器、連接微處理器的LED顯示燈，所述反饋電路連接上述微處理器；所述控制電路為待測電容的充放電電路，當向待測電容充電時，根據待測電容充放電過程中，電壓、時間、容量函數關系計算該待測電容容量，測量過程由微處理器控制，計算結果存儲在微處理器內并顯示出來；當對待測電容充電完畢后，微處理器控制繼電器而對待測電容進行放電，按一定時間間隔提取待測電容的電壓，該提取的待測電容的電壓數據存儲在微處理器內，計算出待測電容的容量，存儲在微處理器內，并顯示出測量結果；

所述充放電電路具體包括：

連接待測電容輸入端的繼電器，與該繼電器并聯的顯示二極管，所述繼電器、并聯二極管的輸出端均連接同一個三極管的集電極，該三極管的發射極接地、基極通過電阻R3連接5V電壓輸入端；所述繼電器還連接電阻R2、取樣電阻R1，該取樣電阻R1串聯穩壓電源、控制開關S，該控制開關S的輸出端、取樣電阻R1的輸出端、電阻R2的輸出端均連接待測電容的輸出端。

2.根據權利要求1所述的一種超級電容的測試方法，其特征在于，所述電壓、時間、容量函數關系如下：Vc=VCC(1-e^-t/RC)，其中Vc為電容器上的電壓，VCC為電源電壓，e為常數，R為取樣電阻，C為被測電容。