[發(fā)明專利]適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510039403.1
• 申請日: 2015-01-27
• 公開（公告）號: CN104596316A
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李剛
• 申請（專利權(quán)）人: 中國恩菲工程技術(shù)有限公司
• 主分類號: F27D19/00
• 分類號: F27D19/00
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 宋合成

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及冶煉工藝技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法。

背景技術(shù)

電爐在冶煉工藝中具有廣泛的應(yīng)用，如鉛鋅冶煉中的保溫電爐，銅冶煉中的貧化、沉降電爐，鎳鐵冶煉中的熔煉電爐等。電爐運(yùn)行是否平穩(wěn)，往往對整個(gè)工藝流程及最終產(chǎn)品的質(zhì)量有著至關(guān)重要的影響。然而由于電爐控制對象的強(qiáng)非線性，使得其功率自動(dòng)控制極易失去穩(wěn)定。泡沫渣是電爐運(yùn)行中經(jīng)常出現(xiàn)的情況，其表現(xiàn)為電極電流迅速上升，此時(shí)如不能及時(shí)控制電極提升，將造成爐料噴出的嚴(yán)重后果。而對于泡沫渣爐況下的這種隨機(jī)跳躍性變化，常規(guī)自動(dòng)控制方法難以適應(yīng)，需要人工判斷并手動(dòng)調(diào)節(jié)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少在一定程度上解決上述相關(guān)技術(shù)中的技術(shù)問題之一。

為此，本發(fā)明的目的在于提出一種適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法，該方法能夠?qū)ε菽陌l(fā)生進(jìn)行預(yù)測和識(shí)別，并控制電極提升，使?fàn)t況快速恢復(fù)正常，提高了電爐運(yùn)行的安全性。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例提出了一種適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法，包括以下步驟：設(shè)定電爐的功率設(shè)定值P_set，并獲取所述電爐的實(shí)際功率值P_act；根據(jù)所述電爐的功率設(shè)定值P_set和實(shí)際功率值P_act計(jì)算所述電爐的電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act；根據(jù)所述電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act判斷所述電爐是否產(chǎn)生泡沫渣；如果產(chǎn)生泡沫渣，則以第一行程設(shè)定值提升電極；以及如果不產(chǎn)生泡沫渣，則根據(jù)所述電爐的電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act計(jì)算電極的升降幅值，并根據(jù)所述升降幅值對所述電極進(jìn)行控制。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法，通過對電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act進(jìn)行監(jiān)控，以判斷電爐是否產(chǎn)生泡沫渣，當(dāng)監(jiān)控到產(chǎn)生泡沫渣時(shí)，退出常規(guī)控制規(guī)律，通過提升電極使電流迅速降低，以使泡沫渣快速地得到緩解和恢復(fù)，在不產(chǎn)生泡沫渣時(shí)，根據(jù)計(jì)算得到的升降幅值對電極進(jìn)行控制。綜上，該方法能夠?qū)ε菽陌l(fā)生進(jìn)行預(yù)測和識(shí)別，并控制電極提升，使?fàn)t況快速恢復(fù)正常，提高了電爐運(yùn)行的安全性。

另外，根據(jù)本發(fā)明上述實(shí)施例的適于泡沫渣爐況的電爐功率控制方法還可以具有如下附加的技術(shù)特征：

在一些示例中，通過以下公式計(jì)算所述電爐的電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act：

Iset=PsetU,]]>

Iact=PactU,]]>

其中，U為電極電壓。

在一些示例中，所述根據(jù)所述電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act判斷所述電爐是否產(chǎn)生泡沫渣具體包括：根據(jù)所述電爐的電流設(shè)定值I_set和電流測量值I_act計(jì)算t時(shí)刻控制誤差e(t)及誤差變化率Δe(t)；如果e(t)＜e_set且Δe(t)＜Δe_set，則判斷產(chǎn)生泡沫渣；如果e(t)≥e_set或Δe(t)≥Δe_set，則判斷不產(chǎn)生泡沫渣。

在一些示例中，根據(jù)以下公式計(jì)算t時(shí)刻控制誤差e(t)及誤差變化率Δe(t)：

e(t)＝I_set(t)-I_act(t)，

Δe(t)＝e(t)-e(t-1)，