[發明專利]有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法

有效

• 申請號: 201510020231.3
• 申請日: 2015-01-14
• 公開（公告）號: CN104597346A
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發明（設計）人: 陳亞洲;程二威;周星;田慶民;潘曉東;閆云斌
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍械工程學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 李榮文

1.一種有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法，其特征在于所述實驗方法包括以下步驟：

（1）將被測試的電子設備放置在有界波模擬器內，示波器放置在有界波模擬器外，示波器通過同軸電纜與被測試電子設備的信號輸出端連接；

（2）按照電磁強度由低到高將有界波模擬器的內部分為若干個區域，分別為測試一區、測試二區、測試三區…依次類推；

（3）首先將被測試的電子設備放置在測試一區內，將測試一區作為起始測試區域，使其與地面平行，控制有界波模擬器以一定電場強度輻照若干次，通過示波器記錄每次的輻照波形和電磁環境效應現象，按照電磁強度由低到高改變被測試電子設備所在的測試區域，直到電子設備出現電磁環境效應為止，如無電磁環境效應則進入步驟（4）；

（4）將測試一區作為起始測試區域，改變電子設備與地面水平夾角，控制有界波模擬器以一定電場強度輻照若干次，通過示波器記錄每次的輻照波形和電磁環境效應現象，按照電磁強度由低到高改變被測試電子設備所在的測試區域，直到電子設備出現電磁環境效應為止，如無電磁環境效應，則進入步驟（5）；

（5）將測試二區作為起始測試區域，重復步驟（3）和步驟（4）中的測試步驟，直到電子設備出現電磁環境效應為止，如無電磁環境效應，則進入步驟（6）；

（6）將測試三區作為起始測試區域，重復步驟（3）和步驟（4）中的測試步驟，直到電子設備出現電磁環境效應為止，如無電磁環境效應，則進入步驟（7）；

（7）依次類推，將測試n區作為起始測試區域，重復步驟（3）和步驟（4）中的測試步驟，直到電子設備出現電磁環境效應為止，n為大于3的自然數。

2.根據權利要求1所述的有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法，其特征在于：所述步驟（3）和步驟（4）中輻照次數為3次。

3.根據權利要求1所述的有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法，其特征在于：所述步驟（4）中改變電子設備與地面水平夾角分別為10°、20°、30°、40°、50°、60°、70°、80°、90°。

4.根據權利要求1所述的有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法，其特征在于：測試設備在有界波模擬器外，用于控制電子設備工作，距離有界波模擬器不少于20米。

5.根據權利要求1所述的有界波環境下電子設備電磁環境效應實驗方法，其特征在于：所述電子設備置于實驗臺上，距地面不低于80cm。