[發(fā)明專利]一種多探頭磁記憶檢測柵格

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510010154.3
• 申請日: 2015-01-09
• 公開（公告）號: CN104597117B
• 公開（公告）日: 2017-12-19
• 發(fā)明（設計）人: 姚海峰;杜劍平;祝彬彬;潘振敏;安璐;李丹寧
• 申請（專利權）人: 貴州省機電研究設計院
• 主分類號: G01N27/82
• 分類號: G01N27/82
• 代理公司: 北京聯(lián)創(chuàng)佳為專利事務所(普通合伙)11362
• 代理人: 韓煒

1.一種多探頭磁記憶檢測柵格，其特征在于：包括支架（1），沿支架（1）的軸線方向分布有一個以上的擴展環(huán)（4），沿擴展環(huán)（4）的圓周方向分布有一個以上的固定扁位（5），每個固定扁位（5）上開有推桿過孔（6）；所述擴展環(huán)（4）圓周方向分布有一個以上的固定槽（12），固定槽（12）下方設有固定扁位（5）；所述固定槽（12）是通槽，固定扁位（5）設置在支架（1）外壁上；所述的固定槽（12）上方設有推桿壓板（3），推桿壓板（3）經壓板螺釘（10）與擴展環(huán)（4）連接。

2.如權利要求1所述的多探頭磁記憶檢測柵格，其特征在于：所述的支架（1）為圓筒形。