[其他]檢查設備及光學檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201490001002.6
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN206281782U
• 公開（公告）日: 2017-06-27
• 發(fā)明（設計）人: 約翰·厄爾尼;達科塔·沃森;約瑟夫·平托
• 申請（專利權）人: 伊魯米那股份有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;B01L3/00
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司11262
• 代理人: 鄭霞

1.一種檢查設備，包括：

(a)半透明或透明板，具有底面，所述底面的至少一部分具有在其上按照具有至少一個透明或半透明部分的圖案所印制的不透明材料，其中所述圖案包括有序陣列中的多個半透明或透明孔；

(b)設置在所述底面下面的溝道，其中所述溝道包括多個平行通道，其經連接以形成單個室，由此從所述溝道或經過所述溝道所發(fā)射的光能夠通過所述至少一個透明或半透明部分。

2.如權利要求1所述的設備，還包括：

(c)填充所述溝道的至少一部分的流體，所述流體包含至少一個發(fā)光材料。

3.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，還包括與所述半透明或透明板相接觸的第二板，其中所述溝道開口設置在所述半透明或透明板與所述第二板之間。

4.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，其中，所述圖案包括形成基準元件的至少一個半透明或透明特征。

5.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，其中，所述圖案包括半透明或透明孔的所述有序陣列中的較大開口。

6.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，包括罩住所述檢查設備的盒。

7.如權利要求1所述的設備，其中，所述底面包括至少一個圖案層，其包括所述不透明材料。

8.如權利要求7所述的設備，其中，所述底面還包括至少一個透明層，其沒有所述不透明材料。

9.如權利要求7所述的設備，其中，所述至少一個圖案層通過所述不透明材料完全涂敷。

10.如權利要求7所述的設備，其中，所述不透明材料包括具有小于75平方微米的面積的多個透明或半透明孔。

11.如權利要求7所述的設備，其中，所述不透明材料包括分隔至少10微米的多個透明或半透明孔。

12.如權利要求7所述的設備，其中，所述不透明材料包括具有小于75平方微米的面積的多個透明或半透明孔，并且所述不透明材料包括具有至少30000平方微米的面積的透明或半透明窗口。

13.如權利要求7所述的設備，其中，所述底面還包括其中包含所述不透明材料至少一個基準層和具有十字形狀的基準。

14.如權利要求7所述的設備，其中，所述至少一個圖案層設置在所述底面上的單元中，并且所述單元重復進行六次，以形成所述底面上的圖案。

15.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，其中，所述溝道包括四個平行通道，其經連接以形成單個室。

16.如權利要求1-2中的任一項所述的設備，其中，所述多個平行通道包括檢測通道，其與較窄的入口通道和出口通道相比是比較寬的。

17.如權利要求16所述的設備，其中，所述入口和出口通道將所述檢測通道分別連接到入口和出口端口。

18.一種光學檢測裝置，包括：

(a)如權利要求1所述的檢查設備，以及

(b)一個或多個檢測器，設置在所述板上方，以接收從所述溝道或者經過所述溝道所發(fā)射的光。

19.如權利要求18所述的光學檢測裝置，其中，所述一個或多個檢測器包括多個測微熒光計。

20.如權利要求19所述的光學檢測裝置，其中，所述多個測微熒光計包含在單片讀取頭中。

21.如權利要求19所述的光學檢測裝置，其中，所述一個或多個檢測器包括六個測微熒光計，并且所述檢查設備包括四個通道。

22.如權利要求21所述的光學檢測裝置，其中，所述六個測微熒光計定位成檢測所述四個通道。

23.如權利要求21所述的光學檢測裝置，其中，所述檢查設備的所述底面包括至少一個圖案層，其包括所述不透明材料，并且所述六個測微熒光計定位成檢測所述圖案層的至少一個。

24.如權利要求23所述的光學檢測裝置，其中，所述至少一個圖案層通過所述不透明材料完全涂敷。

25.如權利要求23所述的光學檢測裝置，其中，所述不透明材料包括具有小于75平方微米的面積的多個透明或半透明孔。