[發(fā)明專利]掃描激光接近檢測(cè)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201480060028.2
• 申請(qǐng)日: 2014-10-23
• 公開（公告）號(hào): CN105683807B
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 斯科特·沃爾特曼;羅伯特·詹姆士·杰克遜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 微視公司
• 主分類號(hào): G02B26/10
• 分類號(hào): G02B26/10
• 代理公司: 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 趙曉祎;戚傳江

一種掃描激光投影機(jī)(100)，該掃描激光投影機(jī)(100)使用檢測(cè)在光電檢測(cè)器(152)處的紅外光的接近檢測(cè)器而檢測(cè)在投影機(jī)視場中的障礙物。利用另外的紅外光源(164)而測(cè)試光電檢測(cè)器。另外的紅外光源也可以被用作能夠檢測(cè)阻擋光電檢測(cè)器的局部障礙物的接近檢測(cè)器。

背景技術(shù)

激光飛行時(shí)間(TOF)距離測(cè)量系統(tǒng)通常測(cè)量已經(jīng)從目標(biāo)反射的激光脈沖的往返時(shí)間。能夠在掃描激光投影機(jī)中采用激光TOF系統(tǒng)，以確定激光路徑中是否存在障礙物。當(dāng)存在障礙物時(shí)，可以關(guān)閉激光源，以避免對(duì)障礙物造成傷害。

附圖說明

圖1示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的掃描激光投影系統(tǒng)；

圖2示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的在視場中具有障礙物的圖1的掃描激光投影系統(tǒng)；

圖3示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的具有阻擋光電檢測(cè)器的局部障礙物的圖1的掃描激光投影系統(tǒng)；

圖4示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的移動(dòng)裝置的框圖；

圖5示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的移動(dòng)裝置；

圖6示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的測(cè)試光電檢測(cè)器的移動(dòng)裝置；

圖7示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的檢測(cè)局部障礙物的移動(dòng)裝置；

圖8示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的游戲設(shè)備；并且

圖9示出根據(jù)本發(fā)明的各種實(shí)施例的方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

在以下詳細(xì)描述中，參考作為示例示出其中可以實(shí)踐本發(fā)明的特定實(shí)施例的附圖。足夠詳細(xì)地描述這些實(shí)施例，以使得本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠?qū)嵺`本發(fā)明。應(yīng)理解，本發(fā)明的各種實(shí)施例雖然不同，但是未必互相排他。例如，在不偏離本發(fā)明的范圍的情況下，可以在其它實(shí)施例內(nèi)實(shí)施在本文連同一個(gè)實(shí)施例所述的具體部件、結(jié)構(gòu)或者特征。另外，應(yīng)理解，在不偏離本發(fā)明的范圍的情況下，可以修改每個(gè)所公開實(shí)施例內(nèi)的個(gè)別元件的位置或者布置。因此，以下詳細(xì)描述不應(yīng)被考慮為限制意義，并且本發(fā)明的范圍僅由經(jīng)適當(dāng)解釋的所附權(quán)利要求、以及權(quán)利要求所授權(quán)的等效物的全部范圍所限定。在附圖中，在幾個(gè)視圖各處，相同附圖標(biāo)記表示相同或者類似的功能。

使用接近檢測(cè)器以實(shí)現(xiàn)具有2級(jí)激光分類的高亮度激光投影機(jī)。在本發(fā)明的一些實(shí)施例中，掃描激光投影機(jī)掃描包括可見光和不可見光兩者的調(diào)制光束。與紅色、綠色和藍(lán)色激光束一起掃描紅外(IR)激光束，以投射具有不可見(IR)覆蓋的可見圖像。如果IR激光入射在物體上，則該光的一部分將朝著投影機(jī)反射回。能夠使用本文稱為“TOF光電檢測(cè)器”的第一光電檢測(cè)器以感測(cè)這種光，并且使得能夠?yàn)镮R光信號(hào)計(jì)算飛行時(shí)間，以確定投影機(jī)和所感測(cè)的物體之間的距離。

給定當(dāng)前激光規(guī)定，則應(yīng)在系統(tǒng)內(nèi)考慮單點(diǎn)故障。本發(fā)明的各種實(shí)施例包括電路和系統(tǒng)，以測(cè)試接近檢測(cè)功能的發(fā)送和接收電路兩者。例如，可以在光源附近包括本文稱為“光源光電檢測(cè)器”的另外的光電檢測(cè)器，以確定激光源是否正在起作用(發(fā)送電路)。同樣地，例如，可以在TOF光電檢測(cè)器附近并且部分地指向TOF光電檢測(cè)器地定位第二IR光源。這種第二IR光源可以被用于測(cè)試TOF光電檢測(cè)器的功能(接收電路)。

定期地，另外的IR光源可以被脈動(dòng)短持續(xù)時(shí)間(例如在垂直回掃期間)。當(dāng)被脈動(dòng)時(shí)，TOF光電檢測(cè)器檢測(cè)IR光并且生成光電流信號(hào)，光電流信號(hào)能夠被系統(tǒng)電路和邏輯電路處理。另外的IR光源可以被規(guī)律性地脈動(dòng)，以驗(yàn)證TOF光電檢測(cè)器在產(chǎn)生信號(hào)的投影機(jī)視場中在缺少物體的情況下正在工作。

除了測(cè)試TOF光電檢測(cè)器之外，另外的IR光源還可以被用于檢測(cè)阻擋TOF光電檢測(cè)器接收所反射的IR激光的局部障礙物。例如，如果在TOF光電檢測(cè)器上放置手指，但是手指并不阻擋用于投射IR激光的主掃描束，則接近檢測(cè)系統(tǒng)將不能夠檢測(cè)投影機(jī)的視場中的其它物體，并且將僅報(bào)告在其檢測(cè)范圍內(nèi)不存在物體。本發(fā)明的各種實(shí)施例使用另外的IR光源和TOF光電檢測(cè)器作為用于檢測(cè)這些局部障礙物的局部接近檢測(cè)器。