[發明專利]n型SiC單晶及其制造方法有效
| 申請號: | 201480047230.1 | 申請日: | 2014-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN105492667B | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發明(設計)人: | 白井嵩幸 | 申請(專利權)人: | 豐田自動車株式會社 |
| 主分類號: | C30B29/36 | 分類號: | C30B29/36;C30B19/04 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038 | 代理人: | 李英 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | sic 及其 制造 方法 | ||
1.n型SiC單晶,其為包含鍺和氮的n型SiC單晶,其中,
所述鍺與所述氮的密度比[Ge/N]滿足0.17<[Ge/N]<1.60的關系,
所述氮的密度[N]滿足1.00×1019個/cm3≤[N]≤1.00×1020個/cm3的關系,
所述鍺的密度[Ge]滿足1.70×1018個/cm3<[Ge]<1.60×1020個/cm3的關系。
2.權利要求1所述的n型SiC單晶,其中,所述鍺與所述氮的密度比[Ge/N]滿足0.24≤[Ge/N]≤0.83的關系。
3.n型SiC單晶的制造方法,其是使SiC晶種基板與具有從內部向表面溫度降低的溫度梯度的Si-C溶液接觸以使n型SiC單晶晶體生長的n型SiC單晶的制造方法,其包括:
在用于形成所述Si-C溶液的原料或所述Si-C溶液中添加氮化物和金屬鍺的工序;和
使包含鍺和氮的n型SiC單晶生長的工序,其中,所述鍺與所述氮的密度比[Ge/N]滿足0.17<[Ge/N]<1.60的關系,所述氮的密度[N]滿足1.00×1019個/cm3≤[N]≤1.00×1020個/cm3的關系,所述鍺的密度[Ge]滿足1.70×1018個/cm3<[Ge]<1.60×1020個/cm3的關系。
4.權利要求3所述的制造方法,其中,所述氮化物為選自氮化鉻、氮化硅、氮化鍺、氮化鈦和氮化鎳中的至少一者。
5.權利要求3或4所述的制造方法,其中,以將包含所述氮和所述鍺的Si-C溶液的總量作為基準的氮原子換算量計,所述氮化物的添加量為0.12原子%以上。
6.權利要求3或4所述的制造方法,其中所述Si-C溶液的表面溫度為1800℃~2200℃。
7.權利要求5所述的制造方法,其中所述Si-C溶液的表面溫度為1800℃~2200℃。
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