[發(fā)明專利]分析物檢測儀表和相關(guān)使用方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201480015282.0
• 申請日: 2014-02-14
• 公開（公告）號: CN105026921B
• 公開（公告）日: 2020-04-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: S.尹加;I.哈丁;R.威廉斯;H.(K.)蔡
• 申請（專利權(quán)）人: 埃葛梅崔克斯股份有限公司
• 主分類號: G01N27/327
• 分類號: G01N27/327;G01N33/487
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 周李軍;石克虎

1.用于獲得編碼在電化學(xué)試驗條上的特征信息的方法，所述電化學(xué)試驗條具有兩個配置在樣品空間內(nèi)的電極，其特征在于，其中在引入樣品之前將所述特征信息編碼在所述試驗條上，所述方法包含以下步驟：

(a)將樣品引入所述樣品空間，使得所述樣品與所述樣品空間內(nèi)的兩個電極接觸，

(b)測定代表所述試驗條的雙層電容或等效電容的值，

(c)將步驟(b)中測定的值轉(zhuǎn)換為反映引入樣品之前所述試驗條的特征的信息，從而獲得編碼在所述電化學(xué)試驗條上的信息；和

(d)基于步驟(c)中轉(zhuǎn)換的所述特征信息實施行動；

其中所述編碼在所述試驗條上的特征信息選自：校準(zhǔn)信息、區(qū)域或國家代碼、產(chǎn)品識別、用戶識別、試驗類型、和制造日期；而且

其中所述基于步驟(c)中測定的所述特征信息實施的行動是以下至少一個：修改對配置在所述試驗條的樣品空間內(nèi)的樣品中的分析物的測定；或向用戶顯示關(guān)于所述試驗條的錯誤信息。

2.權(quán)利要求1所述的方法，其進(jìn)一步包含步驟(a)之后實施的測定樣品是否完全覆蓋所述樣品空間內(nèi)的電極的步驟。

3.權(quán)利要求1或2所述的方法，其中使用以下步驟實施步驟(b)：

(i)在所述試驗條的電極之間施加電勢差，

(ii)斷開所述施加電勢并任選地再施加第二電勢，

(iii)觀察產(chǎn)生的電流并由所述觀察的電流測定在所述電極處的雙層充電或放電，和

(iv)觀察斷開所述施加電勢之后的電壓變化，和

(v)由測量的雙層充電或放電以及觀察到的電壓變化測定所述試驗條的雙層電容。

4.權(quán)利要求1或2所述的方法，其中使用以下步驟實施步驟(b)：

(i)在所述試驗條的電極之間施加具有選擇振幅和選擇頻率的交流電壓，

(ii)測量由步驟(i)中所述電壓施加而產(chǎn)生的電流，和

(iii)由步驟(ii)中測量的所述電流測定所述試驗條的等效電容，其中所述等效電容包括所述試驗條的雙層電容和法拉第電容兩者。

5.權(quán)利要求1或2所述的方法，其中使用以下步驟實施步驟(b)：

(i)在所述試驗條的電極之間施加電勢差，從而給所述試驗條充電，其中在所述試驗條內(nèi)造成雙層電容并通過給所述試驗條充電來產(chǎn)生電壓，

(ii)將通過給所述試驗條充電而造成的所述電壓轉(zhuǎn)換為具有與所造成的雙層電容成比例的周期的振蕩電壓，和

(iii)觀察所述振蕩電壓，和

(iv)由觀察到的振蕩電壓測定所述試驗條的等效電容。

6.權(quán)利要求1所述的方法，其中所述方法進(jìn)一步包含步驟(e)：將試驗條引入分析物儀表，并且其中在將所述試驗條接收于分析物儀表內(nèi)時，通過分析物儀表實施所有步驟(a)至(d)。

7.用于測定與兩個電極接觸的樣品中的分析物的方法，所述兩個電極在電化學(xué)試驗條的樣品空間內(nèi)，其特征在于，其中所述試驗條具有在引入樣品之前編碼在所述試驗條上的特征信息，所述方法包括以下步驟：

(a)將樣品引入所述樣品空間，使得所述樣品與所述樣品空間內(nèi)的兩個電極接觸，

(b)測定代表所述試驗條的雙層電容或等效電容的值，

(c)將步驟(b)中測定的值轉(zhuǎn)換為反映在引入樣品之前所述試驗條的特征的信息，

(d)測定配置在所述樣品空間內(nèi)的樣品中的分析物，和

(e)將步驟(c)中轉(zhuǎn)化的特征信息用以修改步驟(d)中進(jìn)行的測定；

其中所述編碼在所述試驗條上的特征信息選自：校準(zhǔn)信息、區(qū)域或國家代碼、產(chǎn)品識別、用戶識別、試驗類型、和制造日期。

8.權(quán)利要求7所述的方法，其進(jìn)一步包含在步驟(a)之后實施的測定樣品是否完全覆蓋所述樣品空間內(nèi)的電極的步驟。