[實用新型]晶片座有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420802813.8 | 申請日: | 2014-12-18 |
| 公開(公告)號: | CN204361074U | 公開(公告)日: | 2015-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃根友 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫科諾達電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/13 | 分類號: | H01L23/13 |
| 代理公司: | 蘇州廣正知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32234 | 代理人: | 劉述生 |
| 地址: | 江蘇省無錫市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及晶片加工領(lǐng)域,特別是涉及一種高粘度晶片座。
背景技術(shù)
硅屬于半導體材料,其自身的導電性并不是很好。然而,可以通過添加適當?shù)膿诫s劑來精確控制它的電阻率。制造半導體前,必須將硅轉(zhuǎn)換為晶圓片。加工硅晶片生成一個硅錠要花一周到一個月的時間,這取決于很多因素,包括大小、質(zhì)量和終端用戶要求。半導體或芯片是由硅生產(chǎn)出來的。晶圓片上刻蝕出數(shù)以百萬計的晶體管,這些晶體管比人的頭發(fā)要細小上百倍。半導體通過控制電流來管理數(shù)據(jù),形成各種文字、數(shù)字、聲音、圖象和色彩。它們被廣泛用于集成電路,并間接被地球上的每個人使用。這些應用有些是日常應用,如計算機、電信和電視,還有的應用于先進的微波傳送、激光轉(zhuǎn)換系統(tǒng)、醫(yī)療診斷和治療設(shè)備、防御系統(tǒng)和NASA航天飛機。而晶片座作為承載晶片的工具也是起著很關(guān)鍵的作用,但傳統(tǒng)的晶片座缺乏粘合度上的設(shè)計,在加工焊合時不容易將晶片和晶片座固定,并且長時間使用過程中由于缺乏一定的粘合度容易造成兩者的脫開,影響正常使用。
實用新型內(nèi)容
本實用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種晶片座,能夠增加晶片與晶片座之間的粘合度,同時能將焊片時流出的多余錫液順著環(huán)形凹槽流動而不會造成溢出。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型采用的一個技術(shù)方案是:提供一種晶片座,包括晶片座本體,所述晶片座本體上端面中央設(shè)置有一環(huán)形座,所述環(huán)形座凸起于所述晶片座本體上端面設(shè)置,所述環(huán)形座上對應開設(shè)有環(huán)形凹槽,所述環(huán)形座之間的晶體座本體端面上設(shè)置有多個凸粘點,所述凸粘點設(shè)置高度與所述環(huán)形座高度齊平。
在本實用新型一個較佳實施例中,所述環(huán)形座環(huán)形圍住所述凸粘點設(shè)置,所述凸粘點均勻分布于所述環(huán)形座內(nèi)側(cè)。
在本實用新型一個較佳實施例中,所述環(huán)形凹槽與所述環(huán)形座形狀相對應開設(shè)。
在本實用新型一個較佳實施例中,所述凸粘點為凸起實體塊。
在本實用新型一個較佳實施例中,所述環(huán)形座為圓形或者方形。
本實用新型的有益效果是:本實用新型能夠增加晶片與晶片座之間的粘合度,同時能將焊片時流出的多余錫液順著環(huán)形凹槽流動而不會造成溢出。
附圖說明
為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖,其中:
圖1是本實用新型晶片座一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
附圖中各部件的標記如下:?1、晶片座本體;?2、環(huán)形座;?3、環(huán)形凹槽;?4、凸粘點。
具體實施方式
下面將對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅是本實用新型的一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例,都屬于本實用新型保護的范圍。
請參閱圖1,本實用新型實施例包括:
一種晶片座,包括晶片座本體1,所述晶片座本體1上端面中央設(shè)置有一環(huán)形座2,所述環(huán)形座2凸起于所述晶片座本體1上端面設(shè)置,所述環(huán)形座2上對應開設(shè)有環(huán)形凹槽3,所述環(huán)形座2之間的晶體座本體端面上設(shè)置有多個凸粘點4,所述凸粘點4設(shè)置高度與所述環(huán)形座2高度齊平。
另外,所述環(huán)形座2環(huán)形圍住所述凸粘點4設(shè)置,所述凸粘點4均勻分布于所述環(huán)形座2內(nèi)側(cè)。
另外,所述環(huán)形凹槽3與所述環(huán)形座2形狀相對應開設(shè)。
另外,所述凸粘點4為凸起實體塊。
另外,所述環(huán)形座2為圓形或者方形。
本實用新型的工作原理為在晶片座本體1上端面中央設(shè)置有一環(huán)形座2,環(huán)形座2凸起于晶片座本體1上端面設(shè)置,環(huán)形座2上對應開設(shè)有環(huán)形凹槽3,環(huán)形座2之間的晶體座本體端面上設(shè)置有多個凸粘點4,凸粘點4設(shè)置高度與環(huán)形座2高度齊平,在晶片焊于晶片座上時,將晶片貼于環(huán)形座2上,此時由于環(huán)形座2內(nèi)側(cè)的凸粘點4與環(huán)形座2高度一致,可以很好的增加晶片與晶片座的接觸點,進而提高粘合度,并且環(huán)形座2上設(shè)置有與之對應形狀的環(huán)形凹槽3,在焊合時多余的錫液會流入到環(huán)形凹槽3內(nèi)而不溢出。
以上所述僅為本實用新型的實施例,并非因此限制本實用新型的專利范圍,凡是利用本實用新型說明書內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運用在其它相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
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