[實用新型]一種激光器Q開關性能測試裝置

有效

• 申請號: 201420684024.9
• 申請日: 2014-11-14
• 公開（公告）號: CN204128783U
• 公開（公告）日: 2015-01-28
• 發明（設計）人: 張曉暉;孫春生;張爽;饒炯輝;韓宏偉;王冬冬
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍海軍工程大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙) 42224
• 代理人: 宋業斌

1.一種激光器Q開關性能測試裝置，其特征在于，所述裝置包括按照光路方向依次放置且同軸的連續激光器(1)、起偏器(2)、1/4波片(4)、檢偏器(5)和激光能量計(8)，待測Q開關放置在起偏器(2)和1/4波片(4)之間；所述裝置還包括帶有刻度的旋轉架，起偏器(2)、Q開關、1/4波片(4)和檢偏器(5)安裝在帶有刻度的旋轉架上以計量其相位方位。

2.如權利要求1所述的激光器Q開關性能測試裝置，其特征在于，所述連續激光器(1)的波長與待測Q開關的工作波長相同。

3.如權利要求1或2所述的激光器Q開關性能測試裝置，其特征在于，所述待測Q開關包括調Q組件(3)和偏振片波片組件(10)，所述偏振片波片組件(10)包括一個偏振片和一個1/4波片。