[實用新型]嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具

有效

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• 申請日: 2014-10-30
• 公開（公告）號: CN204102578U
• 公開（公告）日: 2015-01-14
• 發(fā)明（設計）人: 姜韜;陳衛(wèi)東;范建根
• 申請（專利權）人: 蘇州科達科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 鮑相如

技術領域

本實用新型屬于內存治具設計制造領域，特別涉及一種嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具。

背景技術

當今，大多數電子設備(如手機、平板電腦、交換機、監(jiān)控設備等等)采用嵌入式系統(tǒng)，隨著嵌入式系統(tǒng)的處理能力越來越強大，實現(xiàn)的功能越來越多，系統(tǒng)的工作頻率越來越高，DDR的工作頻率也逐漸從最低的133?MHz提高到200MHz，從而實現(xiàn)了更大的系統(tǒng)帶寬和更好的性能。由于嵌入式系統(tǒng)中處理器運行的所有程序和數據都放在內存中，因此內存能否可靠工作對系統(tǒng)的運行影響非常大。?

在研發(fā)階段，為了驗證電路設計和布局布線設計的正確性，保證CPU與DDR內存之間能夠正常工作，需要使用示波器測試CPU和DDR內存顆粒各管腳上的信號是否正常；但是由于所有DDR的管腳都在顆粒背面貼在PCB板上，只能通過與各管腳連接的走線或者過孔來進行測試，現(xiàn)有的測試方法是測試者對照原理圖及PCB文件在單板上逐個尋找測試點并一一進行信號測試，但是由于單板上的器件密度越來越高，PCB層數也越來越多，經常會出現(xiàn)部分信號無法找到距芯片較近的測試點，甚至根本沒有探頭可以點到的測試點，導致測試結果不準確或測試不充分。

實用新型內容

為此，本實用新型所要解決的技術問題在于現(xiàn)有用于測試嵌入式單板DDR顆粒信號的測試方法較為復雜，測試不充分，測試結果不準確，進而提供一種能夠方便地測試嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具。

為解決上述技術問題，本實用新型的一種嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具，包括，板體，所述板體的底層焊接于待測單板上，所述板體的表層設置有焊盤，所述焊盤與待測單板的DDR顆粒焊接連接，所述板體的表層上還設置有若干測試孔，所述測試孔與所述DDR顆粒信號一一對應并電連接。

上述嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具中，所述板體為PCB板。

上述嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具中，所述測試孔位于所述焊盤的周圍。

上述嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具中，所述測試孔位于所述焊盤的上側和/或下側。

上述嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具中，所述板體的表層上還設置有標識，所述標識位置與所述測試孔一一對應。優(yōu)選的，所述標識為絲印標識。

本實用新型的上述技術方案相比現(xiàn)有技術具有以下優(yōu)點：

本實用新型采用測試治具用于測試嵌入式單板的DDR顆粒信號，該測試治具的板體的底層焊接于待測單板的DDR對應的焊盤上，板體的表層設置有焊盤，所述焊盤與待測單板的DDR顆粒焊接連接，所述板體的表層上還設置有若干測試孔，所述測試孔與所述DDR顆粒信號一一對應并電連接。該測試治具通過將DDR信號引出的方式,保證測試到DDR顆粒上所有測試信號，同時避免挖孔、刮線等操作，提高了測試效率。

附圖說明

為了使本實用新型的內容更容易被清楚的理解，下面根據本實用新型的具體實施例并結合附圖，對本實用新型作進一步詳細的說明，其中

圖1是本實用新型的嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具的結構示意圖；

圖中附圖標記表示為：1-待測單板，2-板體，3-測試孔，4-焊盤，5-標識。

具體實施方式

以下將結合附圖，使用以下實施例對本實用新型進行進一步闡述。

圖1為本實用新型公開的嵌入式單板的DDR顆粒信號測試治具，包括，板體2，所述板體2為PCB板，所述板體2的底層焊接于待測單板1上，所述板體2的表層設置有焊盤4，所述焊盤4與待測單板1的DDR顆粒焊接連接，所述板體2的表層上還設置有若干測試孔3所述測試孔3與所述DDR顆粒信號一一對應并電連接。

本實用新型通過將嵌入式單板上的DDR顆粒信號通過上述測試治具引出的方式,使待測單板1的DDR顆粒信號均能夠被測試，同時避免挖孔、刮線等操作，提高了測試效率。

作為一種具體的實施方式，本實施例中，所述測試孔3位于所述焊盤4的上側和下側。本領域技術人員應該能夠想到，所述測試孔3還可以位于所述焊盤4的周圍。可以使測試治具占用空間較小。

對應每一個所述測試孔3，所述板體2的表層上還設置有絲印標識，所述絲印標識位置與所述測試孔3一一對應。所述絲印標識表示出各信號測試點對應的信號名稱。

在所述待測單板1加工階段將測試治具2貼裝在單板1上DDR焊接工位上，并將DDR顆粒貼裝在測試治具2上的DDR焊接工位上。測試人員測試信號時可以根據絲印標識5的提示方便快速地測試DDR顆粒的信號完整性。

顯然，上述實施例僅僅是為清楚地說明所作的舉例，而并非對實施方式的限定。對于所屬領域的普通技術人員來說，在上述說明的基礎上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處于本實用新型創(chuàng)造的保護范圍之中。?