[實(shí)用新型]用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420551998.X | 申請(qǐng)日: | 2014-09-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204154630U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-02-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉康;劉賞 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 西安瑞日電子發(fā)展有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/01;G01N21/27 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 dimer 檢測(cè) 光學(xué) 裝置 | ||
1.用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,包括通過(guò)光路依次連接的單波長(zhǎng)LED光源(1)、反應(yīng)杯(3)以及第一光電檢測(cè)模塊(4),單波長(zhǎng)LED光源(1)和反應(yīng)杯(3)之間的光路上還設(shè)置有濾光片(2),所述第一光電檢測(cè)模塊(4)還依次連接有A/D采集模塊(5)和控制器(8),控制器(8)和反應(yīng)杯(3)之間還分別通過(guò)溫度采集模塊(10)和溫度調(diào)節(jié)模塊(9)相連,所述濾光片(2)的折射光路上設(shè)置有第二光電檢測(cè)模塊(6),所述第二光電檢測(cè)模塊(6)還連接有為單波長(zhǎng)LED光源(1)提供電能的恒流供電模塊(7),第二光電檢測(cè)模塊(6)還與A/D采集模塊(5)相連,所述控制器(8)和恒流供電模塊(7)相連。
2.如權(quán)利要求1所述的用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述第一光電檢測(cè)模塊(4)和第二光電檢測(cè)模塊(6)均由相連的光電轉(zhuǎn)換器和運(yùn)算放大器組成。
3.如權(quán)利要求2所述的用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光電轉(zhuǎn)換器是型號(hào)為S1133的光電池,所述運(yùn)算放大器的型號(hào)是LM321。
4.如權(quán)利要求1所述的用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述A/D采集模塊(5)的型號(hào)為ADS1256。
5.如權(quán)利要求1所述的用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述控制器(8)的型號(hào)為STM32f103。
6.如權(quán)利要求1所述的用于D-Dimer檢測(cè)的光學(xué)檢測(cè)裝置,其特征在于,所述溫度采集模塊(10)的型號(hào)為DS18b20。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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