[實用新型]LED芯片通斷測試裝置

有效

• 申請號: 201420496945.2
• 申請日: 2014-08-29
• 公開（公告）號: CN204044283U
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 盧少鵬
• 申請（專利權）人: 深圳市光能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種LED芯片通斷測試裝置，用于對放置在PCB板上的LED芯片的通斷進行批量測試，其特征在于：PCB板上布局設計好的導電圖形，在PCB板上設置多個貫穿的排針孔，所述LED芯片測試裝置包括一工作臺和一控制臺，工作臺位于控制臺之上，工作臺包括一固定的基板和一可上下移動的移動板，該PCB板放置在該基板上，該移動板上插入多個頂針，該頂針的數量和位置與放置在基板上的PCB板上的排針孔一一對應。

2.如權利要求1所述的LED芯片通斷測試裝置，其特征在于：控制臺上設置有一升降按鈕和一開關按鈕。

3.如權利要求1所述的LED芯片通斷測試裝置，其特征在于：工作臺進一步包括一電機和四個升降柱，該移動板的四角套設在升降柱上，該電機與該移動板上下同步移動。

4.如權利要求1所述的LED芯片通斷測試裝置，其特征在于：在基板之下固定一電磁鐵，該電磁鐵位于移動板和基板之間，該電磁鐵的表面面積大于PCB板的表面面積，該基板的表面面積也大于PCB板的面積。