[實(shí)用新型]一種測(cè)試樣品支架有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420489607.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN204154628U | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-02-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭巖;孫金海 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京環(huán)境特性研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/01;G01N21/3581 |
| 代理公司: | 北京君恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11466 | 代理人: | 林月俊;黃啟行 |
| 地址: | 100854*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 樣品 支架 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及光電特性產(chǎn)品檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種測(cè)試樣品支架,比如為一種用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架。
背景技術(shù)
以下對(duì)本實(shí)用新型的相關(guān)技術(shù)背景進(jìn)行說(shuō)明,但這些說(shuō)明并不一定構(gòu)成本實(shí)用新型的現(xiàn)有技術(shù)。
太赫茲波是指頻率在0.1THz到10THz范圍的電磁波,波段介于微波和紅外之間。該波段包含著非常豐富的光譜信息,其波譜頻域范圍覆蓋了生物大分子和凝聚態(tài)物質(zhì)振動(dòng)、轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)的寬電磁波范圍。大多數(shù)物質(zhì)在此波段范圍內(nèi)具有非常豐富的吸收和色散性,即特征指紋譜。這些振動(dòng)所反映的分子結(jié)構(gòu)及其它相關(guān)信息都可以在其吸收峰位和吸收強(qiáng)度上有所反映。通過(guò)測(cè)量并分析這些物質(zhì)的太赫茲信號(hào),可以獲得關(guān)于其物質(zhì)成分、理化信息及生物學(xué)信息。太赫茲安全檢測(cè)的原理是通過(guò)采集各種待檢物品在太赫茲波段的特征指紋譜,將待檢物品的太赫茲頻段吸收譜與數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)指紋吸收譜數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)并做出判別報(bào)警。近年來(lái),太赫茲波安全監(jiān)測(cè)技術(shù)在各類(lèi)有機(jī)物和違禁物質(zhì)(包括各類(lèi)炸藥、毒品等)的檢測(cè)和分析領(lǐng)域得到了廣泛的研究和應(yīng)用。
樣品在太赫茲安全檢測(cè)過(guò)程中有著重要的作用,樣品參數(shù)直接影響各種檢測(cè)參數(shù)和檢測(cè)結(jié)果。在太赫茲安全檢測(cè)過(guò)程中,樣品制備好以后一般被放置在位于太赫茲光路聚焦中心的固定樣品支架上。在多個(gè)樣品連續(xù)測(cè)量過(guò)程中,取放樣品步驟繁瑣、效率低,也容易造成樣品損壞,進(jìn)而影響檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
因此,現(xiàn)有技術(shù)中需要一種能夠解決由于取放樣品步驟繁瑣而導(dǎo)致檢測(cè)效率低、準(zhǔn)確性差的問(wèn)題的技術(shù)方案。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題提供一種用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試樣品支架。
根據(jù)本實(shí)用新型的優(yōu)選的實(shí)施例,提供一種測(cè)試樣品支架,其包括底座組件和設(shè)置在底座組件上的樣品平臺(tái)組件。該測(cè)試樣品支架還包括設(shè)置在底座組件上的用于使樣品平臺(tái)組件相對(duì)于底座組件運(yùn)動(dòng)的滑動(dòng)組件。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架可以用于太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)的樣品測(cè)試,能夠?qū)崿F(xiàn)樣品取放過(guò)程中的平滑的軌道運(yùn)動(dòng),簡(jiǎn)化樣品取放步驟、提高樣品取放效率。該測(cè)試樣品支架不僅能夠在不對(duì)太赫茲發(fā)生器件以及太赫茲安全檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行斷電的情況下實(shí)現(xiàn)待檢測(cè)樣品的更換,而且能夠大大地延長(zhǎng)采用這種測(cè)試樣品支架的樣品測(cè)試系統(tǒng)的使用壽命。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例,滑動(dòng)組件包括固定地設(shè)置在底座組件上的導(dǎo)軌和能夠相對(duì)于導(dǎo)軌運(yùn)動(dòng)的滑塊組件。
在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的再一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中,滑塊組件包括與導(dǎo)軌滑動(dòng)地配合的滑塊和固定地設(shè)置在滑塊上的平臺(tái)。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的又一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例,在平臺(tái)的端部上設(shè)置有手柄,以便于手動(dòng)操作。
在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中,在底座組件與滑動(dòng)組件之間設(shè)置有定位組件,用于限制所述滑塊組件的運(yùn)動(dòng)以及定位樣品平臺(tái)組件的位置。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例,定位組件包括設(shè)置在底座組件或滑塊組件上的第一定位部件以及設(shè)置在底座組件和滑塊組件中的另一個(gè)上的第二定位部件。
在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的再一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中,第一定位部件和第二定位部件是磁性接合部件,兩者通過(guò)彼此之間的作用力而接合在一起。通過(guò)磁性接合部件能夠以非常簡(jiǎn)單的方式實(shí)現(xiàn)第一定位部件和第二定位部件之間的接合。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的又一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例,第一定位部件以能夠移位的方式設(shè)置在滑塊組件上,第二定位部件固定地設(shè)置在底座組件上。通過(guò)調(diào)節(jié)第一定位部件在滑塊組件上的位置可以使得設(shè)置在滑塊組件上的樣品臺(tái)與激光光束對(duì)準(zhǔn),從而提高樣品的測(cè)試精度和準(zhǔn)確度。
在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中,在導(dǎo)軌的第一部分的兩側(cè)設(shè)置有用于限制滑塊組件的運(yùn)動(dòng)的限位塊。限位塊的設(shè)置可以限制滑塊組件在導(dǎo)軌上的過(guò)渡滑動(dòng),從而防止滑塊組件與導(dǎo)軌的破壞。
根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的另一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例,樣品平臺(tái)組件包括固定地設(shè)置在滑塊組件上的樣品增高架和旋轉(zhuǎn)地設(shè)置在樣品增高架上的樣品臺(tái)。
在根據(jù)本實(shí)用新型的測(cè)試樣品支架的還一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中,樣品臺(tái)能夠通過(guò)相對(duì)于樣品增高架旋轉(zhuǎn)以實(shí)現(xiàn)自身高度的調(diào)節(jié)??梢酝ㄟ^(guò)使樣品臺(tái)相對(duì)于樣品增高架旋轉(zhuǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)相對(duì)于樣品增高架的高度的調(diào)節(jié),從而實(shí)現(xiàn)整個(gè)樣品平臺(tái)組件的高度的調(diào)節(jié),由此調(diào)節(jié)樣品臺(tái)及其內(nèi)的樣品的高度。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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