[實(shí)用新型]物件檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420358669.3 | 申請日: | 2014-06-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203929672U | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳國慶;王國倫;林啟豐 | 申請(專利權(quán))人: | 萬潤科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01B11/30 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 徐偉 |
| 地址: | 中國臺(tái)灣高*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 物件 檢測 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型系有關(guān)于一種檢測裝置,尤指一種用以在具反射表面的物件上進(jìn)行檢測的物件檢測裝置。
背景技術(shù)
一般的電子組件由于體積微小,若發(fā)生瑕疵則檢查上相當(dāng)困難,因此在高科技產(chǎn)業(yè)中慣用CCD鏡頭來作檢測,一方面將瑕疵部位放大,另一方面藉由數(shù)字化的影像來檢測其瑕疵部位的確實(shí)位置,以進(jìn)行補(bǔ)救制程或淘汰程序。
一種以光柵配合CCD鏡頭進(jìn)行檢測瑕疵的裝置曾被采用,其主要利用光柵所產(chǎn)生的網(wǎng)格變形,透過CCD鏡頭來檢出瑕疵的部位確實(shí)位置,在晶圓晶粒的瑕疵檢測中亦曾采用此種檢測方式,其通常于特定光源及角度下,經(jīng)人工方式透過CCD鏡頭進(jìn)行觀察光柵因受瑕疵部位影響所產(chǎn)生的網(wǎng)格變形狀態(tài),來檢出晶圓晶粒的瑕疵部位。
實(shí)用新型內(nèi)容
然而以光柵配合CCD鏡頭進(jìn)行檢測瑕疵固然為業(yè)界所慣用,惟先前技術(shù)在晶圓晶粒的瑕疵檢測中采用此種方式檢測常遭遇一些問題,因?yàn)榫A晶粒表面具有極亮的光澤,加上晶圓晶粒表面的平整度,使晶圓晶粒表面縱有瑕疵裂痕,在特定光源及角度下,晶圓晶粒表面光澤的反射,將使CCD鏡頭受到表面光澤反射光源的干擾,而不易檢測出瑕疵裂痕。
于是,本實(shí)用新型的目的,在于提供一種可依需要同時(shí)或切換不同檢測裝置對(duì)檢測物進(jìn)行瑕疵凹痕、裂痕檢測的物件檢測裝置。
本實(shí)用新型的另一目的,在于提供一種可對(duì)易受表面光澤反射光源干擾,而不易檢測出瑕疵凹痕、裂痕的檢測物進(jìn)行檢測的物件檢測裝置。
本實(shí)用新型的又一目的,在于提供一種可藉共用光路以不同檢測裝置對(duì)檢測物進(jìn)行瑕疵凹痕、裂痕檢測的物件檢測裝置。
本實(shí)用新型的再一目的,在于提供一種可依需要同時(shí)或切換或不同檢測裝置對(duì)檢測物進(jìn)行瑕疵凹痕、裂痕檢測的物件檢測裝置。
本實(shí)用新型的又再一目的,在于提供一種可對(duì)易受表面光澤反射光源干擾,而不易檢測出瑕疵凹痕、裂痕的檢測物進(jìn)行檢測的物件檢測裝置。
依據(jù)本實(shí)用新型目的的物件檢測裝置,包括:一第一檢測裝置及一第二檢測裝置,二者各具有不同焦距而分別擷取檢測物表面影像,其中,第二檢測裝置擷取檢測物表面影像中光柵網(wǎng)格變化者。
依據(jù)本實(shí)用新型另一目的的物件檢測裝置,包括:一具網(wǎng)格的光柵,經(jīng)一第一光源投射于檢測物表面;一第二檢測裝置,經(jīng)一第一分光鏡的折射擷取檢測物表面具網(wǎng)格影像,由影像中光柵網(wǎng)格變化觀測檢測物的瑕疵凹痕、裂痕者。
依據(jù)本實(shí)用新型又一目的的物件檢測裝置,包括:一第二光源,投射檢測物表面,其反射形成一第一檢測光路;一具網(wǎng)格的光柵,經(jīng)一第一光源投射于檢測物表面形成一第二檢測光路;該第一檢測光路由一第一檢測裝置擷取檢測物表面的影像;該第二光路由一第二檢測裝置擷取檢測物表面具網(wǎng)格的影像。
依據(jù)本實(shí)用新型再一目的的物件檢測裝置,包括:一第一檢測裝置,用以擷取檢測物表面影像;一第一分光鏡,其設(shè)于第一檢測裝置與檢測物連成的軸向上;一第二檢測裝置,其對(duì)應(yīng)該第一分光鏡,以擷取第一分光鏡折射的檢測物表面影像;一第二分光鏡,設(shè)于第一檢測裝置與檢測物連成的軸向上,其設(shè)有具網(wǎng)格的光柵,一第一光源向光柵投射光源,使光柵上的網(wǎng)格經(jīng)第二分光鏡折射至檢測物表面;一第二光源,位于第二分光鏡與檢測物表面間,并設(shè)于第一檢測裝置與檢測物連成的垂直軸向上。
依據(jù)本實(shí)用新型又再一目的的物件檢測裝置,包括:一光柵,具有網(wǎng)格,并受一第一光源投射而將網(wǎng)格投射于一檢測物表面;一第二檢測裝置,其經(jīng)自一第一分光鏡的折射,而擷取該檢測物表面反射的具網(wǎng)格的檢測物表面影像。
本實(shí)用新型實(shí)施例的物件檢測裝置,其以具網(wǎng)格的光柵屏蔽置于第一光源前端,使其投射于檢測物的檢測面上,再藉由第二檢測裝置的CCD鏡頭架構(gòu)正確的焦距,清楚觀測檢測物表面網(wǎng)格變化,并標(biāo)示瑕疵位置以屏幕用圖像顯示;其于檢測物原第一檢測裝置的CCD鏡頭檢測項(xiàng)目所需光學(xué)機(jī)構(gòu)上,再架構(gòu)第二組具部份同光路的感測系統(tǒng),以同時(shí)取得不受光源反射干擾而清楚表現(xiàn)檢測物表面細(xì)微瑕疵裂痕的網(wǎng)格影像,用戶不僅可以第一檢測裝置觀測檢測物表面影像,亦可同時(shí)或切換以第二檢測裝置作排除光源反射干擾的表面細(xì)微瑕疵凹痕、裂痕檢查,不僅可提升檢測速度,亦可達(dá)到精確檢測的目的。
附圖說明
圖1系本實(shí)用新型實(shí)施例的機(jī)構(gòu)配置示意圖。
圖2系本實(shí)用新型實(shí)施例中第一檢測光路的形成路徑示意圖。
圖3系本實(shí)用新型實(shí)施例中第二檢測光路的形成路徑示意圖。
圖4系本實(shí)用新型實(shí)施例中光柵的網(wǎng)格示意圖。
圖5系本實(shí)用新型實(shí)施例中光柵的網(wǎng)格出現(xiàn)變形的示意圖。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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