[實用新型]一種集成測試裝置

有效

• 申請號: 201420310638.0
• 申請日: 2014-06-11
• 公開（公告）號: CN203870182U
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 吳煒;王翀;韓艷;李侔螢;高崢;田建光;馬迎新;顧穎;趙偉;韓曉明;劉啟蒙;王艷召;郭飛;陳方東;趙雪松;楊旭東;霍明光;韓琨;范彩杰
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網冀北電力有限公司檢修分公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/06;G01R35/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本申請涉及計算機自動化測試調試系統技術領域，更具體地說，涉及一種集成測試裝置。

背景技術

在繼電器保護及自動化等相關專業中，在電流互感器(current?transformer，CT)、繼電器、及輔助直流電源發生器進行工作之前，為了保證上述各個裝置的規格符合要求，需要對上述所述CT的極性、變比、繼電器的電流電壓動作值以及輔助直流電源的發生器等方面進行實驗。在實驗時一般采用電池、測試芯片、工控機、I/O接口、DSP(digital?signal?processor)、電流波形采樣報警電路、電壓功放電路、電流功放電路、A/D轉換器、波形回踩保護報警電路以及繼電器保護裝置、保護專業測試儀、直流電源發生器等較多的設備，按需要進行連接，然后再對所需測試裝置進行測試。

可見，在對上述各個裝置進行測試時，需要準備多種實驗元器件，并且需要用戶對依據實驗內容連接出相應的實驗電路，使用不方便，從而導致實驗效率較低。

實用新型內容

有鑒于此，本申請提供一種集成測試裝置，已解決現有技術中的實驗效率低的問題。

為了實現上述目的，現提出的方案如下：

一種集成測試裝置，包括：測試芯片、USB數據接口、工控機、DSP、電壓功放器、電流功放器、第一、第二波形回采保護報警器、繼電器保護裝置、I/O接口、第一A/D轉換器、第二A/D轉換器、D/A轉換器，其中：

所述測試芯片和所述USB數據接口分別與所述工控機的第一端和第二端一一對應相連；

所述工控機的第三端與所述DSP的第一端相連；

所述DSP的第二端和第三端分別與所述第一A/D轉換器、第二A/D轉換器一一對應相連；

所述DSP的第四端和第六端分別與第一和第二波形回采保護報警器一一對應相連；

所述DSP通過I/O接口與D/A轉換器的輸入端相連；

所述D/A轉換器的輸出端分別與所述電壓功放器和所述電流功放器的輸入端相連；

所述電壓功放器的電壓輸出端與所述繼電器保護裝置的電壓輸入端相連；

所述電流功放器的電流輸出端與所述繼電器保護裝置的電流輸入端相連；

所述繼電器保護裝置的開路信號端與所述DSP的開路信號端相連。

優選的，上述集成測試裝置中，所述工控機通過高速工業總線與所述DSP相連。

優選的，上述集成測試裝置中，所述電壓功放器中設置有六路電壓功放電路，所述電流功放器中設置有六路電流功放電路，所述D/A轉換器設置有十二路D/A轉換電路，其中六路D/A轉換電路分別與所述六路電壓功放電路一一對應相連，另外六路D/A轉換電路分別與所述六路電流功放電路一一對應相連。

優選的，上述集成測試裝置中，還可以包括：

與所述工控機相連的數據輸入設備。

優選的，上述集成測試裝置中的所述數據輸入設備可以包括：觸摸屏或觸控板和或內置鍵盤。

優選的，上述集成測試裝置還可以包括：與所述工控機相連的顯示器，所述顯示器用于顯示所述工控機的工控信息。

優選的，上述集成測試裝置的殼體上設置有裝置面板；

所述裝置面板的設置有顯示屏、USB插口、開始試驗按鈕、手動增加旋鈕、手動減小按鈕、開入位切換按鈕、急停按鈕、機械/電子表切換按鈕、相別切換按鈕、輔助直流按鈕、功能切換按鈕、交、直流輸出按鈕以及設置在觸摸屏上的設置選項按鈕。

優選的，上述集成測試裝置的裝置面板還設置有短路指示燈、過熱指示燈、電流開路指示燈。

優選的，上述集成測試裝置中的，所述短路指示燈、過熱指示燈、電流開路指示燈、USB插口、開始試驗按鈕、手動增加和手動減小按鈕和開入位切換按鈕設置在所述顯示屏的周圍。

優選的，上述集成測試裝置的殼體的側面還設置有弧形把手、電源開關以及交流電源插孔。

從上述的技術方案可以看出，本申請公開的所述集成測試裝置，通過將現有技術中的多個依據所需進行的各個測試實驗所需的實驗電路進行連接，提供了一種能夠獨立完成多項實驗的集成測試裝置，該裝置通過工控機將電流大小、頻率、相角等參數的設置指令下發至DSP中，再由所述DSP經I/O接口將相應指令發送至所述D/A轉換器中，最后經電流/電壓功放器進行平滑處理及功率放大后輸出至被測試裝置，從而解決了現有技術中用戶在進行實驗室必須針對實驗內容重新連接實驗線路而導致的實驗效率低的問題。

附圖說明