[實用新型]鉆頭齒高測量裝置

有效

• 申請號: 201420264247.X
• 申請日: 2014-05-22
• 公開（公告）號: CN203837623U
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 王瑞利;何春霞;郭會娟;李秀芬;黃亞軍;徐玉城;郭帥領
• 申請（專利權）人: 黃河科技學院
• 主分類號: G01B5/02
• 分類號: G01B5/02
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 胡偉華

技術領域

本實用新型涉及鉆頭齒高測量裝置。

背景技術

目前，潛孔鉆、頂錘鉆在勘探、土石方工程、礦山采礦鉆孔及石油鉆探等領域應用廣泛，發揮了巨大的作用。現有的潛孔鉆和釘錘鉆的鉆頭大多是由鋼制基體、鑲嵌在鋼制基體上的硬質合金齒頭組成。高質量的潛孔鉆頭、頂錘鉆頭要求硬質合金齒頭的露出高度均勻一致，這樣可以在使用過程中保證硬質合金齒頭的均勻受力，從而保證各硬質合金齒頭同步磨損，延長潛孔鉆頭、頂錘鉆頭的使用壽命。因此，生產鉆頭時，就需要對鉆頭上硬質合金齒頭的齒高進行測量，以保證產品質量。現有技術中，傳統企業均采用測量齒孔深度的方式來間接測量齒高，由于硬質合金齒頭的制造誤差及裝配誤差，即使齒孔深度測量合格，成品也很容易出現硬質合金齒頭的露出高度不一致的問題，不利于生產過程中對產品質量的控制，次品率偏高，難以保證產品的質量和一致性，同時影響了企業的生產效率。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種鉆頭齒高測量裝置，解決現有技術中無法直接對鉆頭齒高進行測量的問題。

本實用新型鉆頭齒高測量裝置采用的技術方案是：鉆頭齒高測量裝置，包括具有伸縮測頭并能夠檢測伸縮測頭的伸縮位移的量具，還包括用于穩定支撐到被測量齒頭周圍的基體上的量具支座，所述量具支座上設有用于固定所述量具并使其測頭的伸縮方向沿齒頭的齒高方向設置的量具固定結構，所述量具支座的底部設有供鉆頭的齒頭進入的開放空間，所述量具的測頭懸伸在所述開放空間中。

所述量具支座為套筒狀的測量筒，所述測量筒的底部開口、頂部設有供所述量具插入的量具插孔。

所述量具固定結構是沿測量筒徑向裝配在測量筒的側壁上的緊定螺釘，所述緊定螺釘具有用于在旋緊和旋松時分別頂緊和釋放所述量具的頂壓端。

所述測量筒具有大于鉆頭上齒頭的外徑而在使用時套裝到齒頭上的內徑。

所述測量筒具有比相應鉆頭上齒頭的外徑大0.5mm的內徑。

所述量具為百分表，所述百分表具有供伸縮測頭導向移動裝配的套筒并依靠套筒固定在量具支座上。

本實用新型采用上述技術方案，鉆頭齒高測量裝置包括具有伸縮測頭并能夠檢測伸縮測頭的伸縮位移的量具，還包括用于支撐放置到被測量齒頭周圍的基體上的量具支座，所述量具支座上設有用于固定所述量具并使其測頭的伸縮方向沿齒頭的齒高方向設置的量具固定結構，所述量具支座的底部設有供鉆頭的齒頭進入的開放空間，所述量具的測頭懸伸在所述開放空間中，因此，使用時將量具支座支持到被測量齒頭周圍的基體上，使齒頭進入開放空間中并頂壓伸縮測頭，即可通過量具檢測到的伸縮測頭的伸縮位移和齒頭未頂壓伸縮測頭前的伸縮位移確定齒頭的高度，實現對鉆頭齒高的直接測量，操作方便、快捷，能夠有效保證產品的質量，提高生產效率。

附圖說明

圖1是本實用新型鉆頭齒高測量裝置的一個實施例的結構示意圖；

圖2是圖1中鉆頭齒高測量裝置的使用狀態示意圖。

圖中各附圖標記對應的名稱為：10百分表，11表頭，12套筒，13伸縮測頭，20測量筒，30緊定螺釘，40鉆頭，41齒頭。

具體實施方式

本實用新型鉆頭齒高測量裝置的一個實施例如圖1~圖2所示，是一種用于鉆頭齒高測量的專用工具，包括百分表10和測量筒20，百分表10作為量具，測量筒20作為量具支座。

百分表10為現有技術，包括表頭11、伸縮測頭13和供伸縮測頭13導向移動裝配的套筒12，表頭11能夠檢測伸縮測頭13的伸縮位移，并將伸縮位移轉化為量化的數值顯示出來。測量筒20為套筒狀，用于穩定支撐到被測量齒頭41周圍的基體上。測量筒20的底部開口，形成供鉆頭40上的齒頭41進入的開放空間，頂部設有封蓋，封蓋上于中心軸線處設有供百分表10的套筒12插入的插孔。測量筒20的側壁上還設有螺紋孔并旋裝有緊定螺釘30，緊定螺釘30沿測量筒20的徑向設置，前端為用于在旋緊和旋松時分別頂緊和釋放所述量具的頂壓端，能夠實現對百分表10的固定。另外，緊定螺釘30旋松后，還可以使百分表10相對與測量筒20上下移動，從而調整百分表10的伸縮測頭13在測量筒20中的位置，方便測量。

所述測量筒20具有大于鉆頭40上齒頭41的外徑而在使用時套裝到齒頭41上的內徑，本實施例中，所述測量筒20的內徑比相應鉆頭40上齒頭41的外徑大0.5mm，既能夠保證測量筒20順利套到齒頭41上，又能夠保證百分表10的伸縮測頭13與齒頭41的同軸度，避免因鉆頭40基體表面的形狀及平整度對測量結構的影響，有效減小測量誤差，提高測量精度和測量效率。