[實用新型]抑制電極以及離子注入機有效
| 申請號: | 201420258903.5 | 申請日: | 2014-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN203895408U | 公開(公告)日: | 2014-10-22 |
| 發明(設計)人: | 陳曉;栗保安;劉群超 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01J37/30 | 分類號: | H01J37/30 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李時云 |
| 地址: | 100176 北京市大興區*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 抑制 電極 以及 離子 注入 | ||
技術領域
本實用新型涉及半導體分析技術領域,特別是涉及一種抑制電極以及離子注入機。
背景技術
在半導體工藝制造過程中,需要采用離子注入機,在半導體材料的預定區域中摻雜預先確定濃度的雜質離子,從而改變該區域中的電傳輸特性。
一般的,離子注入機的電弧腔用于產生離子,然而,從電弧腔中激發出來的離子的方向是散亂的,無法形成離子束,所以,需要在電弧腔的外沿設置一個抑制電極(suppression?electrode),將電弧腔產生離子吸引并整流為均具有特定方向的離子束流。
圖1、圖2為現有技術中抑制電極的示意圖,如圖1所示,在現有技術中,抑制電極1為具有一定厚度的板,抑制電極1中具有一縫隙11,抑制電極1具有一入射面1a。如圖3所示,向抑制電極1施加電壓,電弧腔產生的離子20從入射面1a進入縫隙11,部分離子20穿過縫隙11后,而完成整流過程,形成具有特定方向的離子束流20’。
然而,在現有技術中,抑制電極1只能對離子束流的形狀進行調整,無法調整離子束流的方向。如圖4所示,當離子20非垂直入射面流入縫隙11時,穿過縫隙11的離子20保持原來的流動方向,造成離子束流20’的方向不具有可控性。
實用新型內容
本實用新型的目的在于,提供一種抑制電極以及離子注入機,能夠精確地控制離子束流的方向。
為解決上述技術問題,本實用新型提供一種抑制電極,所述抑制電極包括一入射板,所述入射板包括至少三個入射板電極以及一入射板孔,所述至少三個入射板電極旋轉排列形成所述入射板孔,每一所述入射板分別連接一可調電壓。
可選的,在所述抑制電極中,所有的所述入射板為半徑相等的扇形板,每一扇形板的圓心處均具有一缺角,所有的所述扇形板排列為一圓形板,所有的所述缺角形成所述入射板孔。
可選的,在所述抑制電極中,所述入射板包括四個所述入射板。
可選的,在所述抑制電極中,所有的所述扇形的圓心角的角度均相同。
可選的,在所述抑制電極中,相鄰的所述入射板間隔設置,所述間隔的寬度為1mm~5mm。
可選的,在所述抑制電極中,所述入射板的厚度為1mm~5mm。
可選的,在所述抑制電極中,所述抑制電極還包括:
后板,所述后板包括一后板孔,所述后板孔正對所述入射板孔;以及
用于連接固定所述入射板和后板的絕緣連接件。
可選的,在所述抑制電極中,所述后板孔為圓角矩形。
可選的,在所述抑制電極中,所述后板孔的寬度為3mm~8mm,所述后板孔的長度為40mm~55mm。
可選的,在所述抑制電極中,所述入射板孔為橢圓形,所述橢圓形的長軸方向對應所述圓角矩形的長度方向,所述橢圓形的短軸方向對應所述圓角矩形的寬度方向。
可選的,在所述抑制電極中,所述入射板孔的短軸直徑大于等于所述后板孔的寬度,并小于等于所述后板孔的兩倍寬度。
可選的,在所述抑制電極中,所述后板還包括一后板電極和一用于支撐所述后板電極的后板支架,所述后板孔設置于所述后板電極中,所述后板電極設置于所述后板支架中。
可選的,在所述抑制電極中,所述絕緣連接件連接所述后板支架。
可選的,在所述抑制電極中,所述絕緣連接件包括多個實心棒,所述實心棒的一端連接所述入射板,所述實心棒的另一端連接所述后板。
可選的,在所述抑制電極中,所述后板的厚度為5mm~15mm。
可選的,在所述抑制電極中,所述入射板與后板之間的距離為30mm~80mm。
根據本實用新型的另一面,本實用新型還提供一種離子注入機,包括如上所述的任意一種抑制電極。
與現有技術相比,本實用新型提供的抑制電極以及離子注入機具有以下優點:
在本實用新型提供的抑制電極以及離子注入機中,所述抑制電極包括一入射板,所述入射板包括至少三個入射板電極以及一入射板孔,所述至少三個入射板電極旋轉排列形成所述入射板孔,每一所述入射板分別連接一可調電壓,與現有技術相比,電弧腔產生的離子被吸引流入所述入射板孔,通過調整每一所述入射板電極所連接的可調電壓的電壓大小,改變所述入射板孔內的電場方向,從而改變所述離子的流動方向,使得流過所述入射板孔后形成的離子束流的方向具有可控性。
附圖說明
圖1為現有技術中抑制電極的立體圖;
圖2為現有技術中抑制電極的主視圖;
圖3為現有技術中離子垂直入射面流入縫隙時抑制電極的左視圖;
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