[實用新型]物體厚度檢測裝置和接觸式圖像傳感系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420234051.6
• 申請日: 2014-05-08
• 公開（公告）號: CN203811151U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 林永輝;姜利;宋榮鑫
• 申請（專利權(quán)）人: 威海華菱光電股份有限公司
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02;G01N21/84
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

1.一種物體厚度檢測裝置，其特征在于，包括：

信號發(fā)射機構(gòu)，用于向待測物體發(fā)射具有第一相位的第一信號，所述第一信號用于測試所述待測物體的厚度；

信號接收機構(gòu)，用于接收所述第一信號經(jīng)過所述待測物體反射或者透射后的第二信號，所述第二信號具有第二相位；以及

相位差檢測機構(gòu)，與所述信號發(fā)射機構(gòu)和所述信號接收機構(gòu)相連接，用于根據(jù)所述第一相位和所述第二相位的相位差確定所述待測物體的厚度范圍。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述相位差檢測機構(gòu)包括：

計算單元，包括第一輸入端、第二輸入端和輸出端，所述第一輸入端與所述信號發(fā)射機構(gòu)相連接，所述第二輸入端與所述信號接收機構(gòu)相連接，用于接收來自所述信號發(fā)射機構(gòu)的第一信號和來自所述信號接收機構(gòu)的第二信號，并計算所述第一相位和所述第二相位的相位差；以及

比較單元，與所述計算單元的輸出端相連接，用于將所述相位差與預(yù)設(shè)閾值進行比較以確定所述待測物體的厚度。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述物體厚度檢測裝置還包括存儲單元，與所述比較單元相連接，用于存儲所述預(yù)設(shè)閾值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述信號發(fā)射機構(gòu)包括：

起振單元，用于產(chǎn)生所述第一信號；以及

發(fā)射電極，與所述起振單元相連接，用于將所述第一信號發(fā)射到所述待測物體上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述信號接收機構(gòu)包括：

接收電極，與所述相位差檢測機構(gòu)相連接，用于接收所述第二信號。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述發(fā)射電極和/或所述接收電極為采用透明材質(zhì)或者非透明材質(zhì)的電極。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述信號發(fā)射機構(gòu)與所述信號接收機構(gòu)相對設(shè)置，其中，所述待測物體放置在所述信號發(fā)射機構(gòu)與所述信號接收機構(gòu)之間。

8.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任一項所述的物體厚度檢測裝置，其特征在于，所述信號發(fā)射機構(gòu)與所述信號接收機構(gòu)并列設(shè)置，其中，所述待測物體放置在所述信號發(fā)射機構(gòu)和所述信號接收機構(gòu)的相同側(cè)。

9.一種接觸式圖像傳感系統(tǒng)，其特征在于，包括：

接觸式圖像傳感器，用于掃描待測物體上的光學圖像；以及

權(quán)利要求1至8中任一項所述的物體厚度檢測裝置，用于測量所述待測物體的厚度。