[實用新型]基于邁克爾遜干涉儀的全光纖折射率計及其系統

有效

• 申請號: 201420189564.X
• 申請日: 2014-04-18
• 公開（公告）號: CN203894161U
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發明（設計）人: 王義平;李正勇;廖常銳
• 申請（專利權）人: 深圳大學
• 主分類號: G01N21/45
• 分類號: G01N21/45
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 陳健

1.基于邁克爾遜干涉儀的全光纖折射率計，其特征在于，包括依次順序熔接的第一根單模光纖、細芯光纖和第二根單模光纖；所述細芯光纖的長度和所述第二根單模光纖的長度的比值符合一定數值范圍。

2.根據權利要求1所述的全光纖折射率計，其特征在于，所述細芯光纖的長度在1100μm-1900μm范圍內。

3.根據權利要求1所述的全光纖折射率計，其特征在于，所述第二根單模光纖的長度在40μm-60μm范圍內。

4.根據權利要求1所述的全光纖折射率計，其特征在于，所述細芯光纖可替換為色散位移光纖或光子晶體光纖。

5.一種基于邁克爾遜干涉儀的全光纖折射率計系統，其特征在于，包括光源、光譜測量儀、耦合器和權利要求1至4任一所述的全光纖折射率計，所述耦合器的第一輸入端連接所述光源，所述耦合器的第二輸入端連接所述光譜測量儀，所述耦合器的輸出端連接所述全光纖折射率計的第一單模光纖，所述全光纖折射率計的第二單模光纖處的傳感頭浸沒于待測液體中。