[實用新型]一種高可靠性插拔測試裝置

有效

• 申請號: 201420185207.6
• 申請日: 2014-04-16
• 公開（公告）號: CN203786226U
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 江亞;劉鵬
• 申請（專利權）人: 武漢鈞恒科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

1.一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：包括支撐板（1）、測試PCB（2）和用于實現待測模塊（4）與所述測試PCB（2）電接觸的模塊控制組件（3）；所述測試PCB（2）的下端面與所述支撐板（1）的上端面固定連接；所述模塊控制組件（3）設置于所述測試PCB（2）的上端面；

所述測試PCB（2）上設有多個焊孔（2.2）；

所述模塊控制組件（3）包括底座（3.1）、框架（3.3）和多個導通夾持彈片（3.2）；所述底座（3.1）上設有與多個所述焊孔（2.2）相對應的多個導針孔；所述底座（3.1）的下端面與所述測試PCB（2）的上端面固定連接；多個所述導通夾持彈片（3.2）依次穿過所述導針孔和焊孔（2.2）、且與所述焊孔（2.2）焊接；所述框架（3.3）的下端與所述底座（3.1）固定連接，且所述框架（3.3）與所述底座（3.1）之間組成一個用于放置待測模塊（4）的放置區域。

2.根據權利要求1所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：多個所述導通夾持彈片（3.2）均包括導針（3.2.4）、連接部（3.2.2）和下壓部（3.2.1）；所述導針（3.2.4）與所述連接部（3.2.2）的底部相連并一體成型；所述下壓部（3.2.1）與所述連接部（3.2.2）頂部相連并一體成型，所述下壓部（3.2.1）與所述連接部（3.2.2）之間組成一個用于夾緊所述待測模塊（4）的電口的夾嘴（3.2.3）。

3.根據權利要求2所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述底座（3.1）的上端面還設有與所述多個所述連接部（3.2.2）相匹配的多個第一凹槽（3.1.2），，且多個所述導針孔分別設置多個所述第一凹槽（3.1.2）內。

4.根據權利要求1至3任一所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述框架（3.3）的下端設有兩個用于卡住所述底座（3.1）兩側的卡槽（3.3.2）。

5.根據權利要求4所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述底座（3.1）的上端面設有第二凹槽（3.1.4）；所述框架（3.3）的下端設有方形缺口（3.3.3）；所述第二凹槽（3.1.4）與所述方形缺口（3.3.3）組成所述放置區域。

6.根據權利要求5所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述測試PCB（2）上設有多個第一緊固通孔（2.1）；所述底座（3.1）設有與多個所述第一緊固通孔（2.1）相對應的多個第二緊固通孔（3.1.1；3.1.3）；所述底座（3.1）與所述測試PCB（2）之間通過螺釘穿過所述第一緊固通孔（2.1）和第二緊固通孔（3.1.1；3.1.3）固定連接。

7.根據權利要求5所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述測試PCB（2）上設有四個第一緊固通孔（2.1）；所述底座（3.1）設有與四個所述第一緊固通孔（2.1）相對應的四個第二緊固通孔（3.1.1；3.1.3）；所述框架（3.3）上設有與四個所述第二緊固通孔（3.1.1；3.1.3）中的兩個所述第二緊固通孔（3.1.3）相對應的兩個第三緊固通孔（3.3.1）；所述底座（3.1）與所述測試PCB（2）之間通過螺釘穿過所述第一緊固通孔（2.1）和第二緊固通孔（3.1.1）固定連接；所述框架（3.3）與所述底座（3.1）之間通過螺釘穿過所述第一緊固通孔（2.1）、第二緊固通孔（3.1.3）、第三緊固通孔（3.3.1）固定連接。

8.根據權利要求5所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述框架（3.3）的上端的兩側分別設有凸起（3.3.4）。

9.根據權利要求5所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述測試PCB（2）與所述支撐板（1）通過四個螺釘固定連接，四個所述螺釘分別穿過所述測試PCB（2）上的四個緊固通孔（2.3）。

10.根據權利要求9所述一種高可靠性插拔測試裝置，其特征在于：所述支撐板（1）的上端面設有通風凹槽（1.1）。