[實用新型]光纖免纏繞插損回損測試儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420159584.2
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN203883837U
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周永軍
• 申請（專利權(quán)）人: 鎮(zhèn)江奧菲特光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 鎮(zhèn)江京科專利商標代理有限公司 32107
• 代理人: 夏哲華

技術(shù)領(lǐng)域

????本實用新型涉及一種用于光纖連接器測試的設(shè)備，具體地說是一種光纖免纏繞插損回損測試儀，屬于光纖通信技術(shù)領(lǐng)域。?

背景技術(shù)

光纖通信具有信號穩(wěn)定、損耗小、傳輸距離長、容量高等多方面優(yōu)點，已在各國現(xiàn)代通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)中廣泛采用備。當前，我國的光纖通信網(wǎng)絡(luò)建設(shè)迅猛，三大運營商及廣電系統(tǒng)都確定了“加快光進銅退、推進接入網(wǎng)戰(zhàn)略轉(zhuǎn)型”的思路。光纖活動連接器和光纖一樣，屬于光纖通信網(wǎng)絡(luò)中最基本的組成部分，在光纖通信網(wǎng)絡(luò)中具有巨大的需求量。國家的相關(guān)主管部門針對光纖活動連接器也制定了多項行業(yè)標準，對其性能指標作出了具體的規(guī)定。行業(yè)標準規(guī)定，光纖活動連接器出廠前的光學(xué)性能檢驗項目為插入損耗和回波損耗。?

光纖連接器生產(chǎn)廠家出廠檢驗主要是利用插損回損測試儀來檢測光纖連接器的性能指標。目前市場上的插損回損測試儀在測試光纖連接器回損的時候，需要對光纖進行纏繞，以消除光纖連接器后端端面的光反射影響，由此在測試過程中容易對光纖造成損傷，測試效率也比較低下。?

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種測試方便可靠，測試效率高且能避免對光纖造成損傷的光纖免纏繞插損回損測試儀。?

為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型的光纖免纏繞插損回損測試儀，包括中央處理器，中央處理器通過光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器，波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，光分路器的回損信號端連接回損測試模塊；回損測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準的時鐘芯片，時鐘芯片分別與回損測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準時間。?????所述被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。?

所述分路器通過接頭和測試線連接被測跳線的前端面。?

采用上述的結(jié)構(gòu)后，由于光發(fā)射模塊的發(fā)射信號能夠通過波分復(fù)用器傳輸?shù)焦夥致菲鳎?jīng)過接頭和測試線傳輸?shù)奖粶y跳線的前端面，CPU連接回損測試模塊，回損測試模塊還經(jīng)過時鐘芯片到CPU，由此可以通過時鐘芯片提供時間基準，回損測試模塊記錄返回的菲涅爾反射，回損測試模塊通過與時鐘芯片的同步，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，就達到了免于光纖纏繞的目的，測試方便可靠，避免了光纖在測試時受傷，還可以極大地提升產(chǎn)品測試效率。?

附圖說明

????圖1為本實用新型光纖免纏繞插損回損測試儀的原理框圖。?

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施方式，對本實用新型的光纖免纏繞插損回損測試儀作進一步詳細說明。?

如圖所示，本實用新型的光纖免纏繞插損回損測試儀，包括中央處理器（CPU），中央處理器通過光發(fā)射模塊連接波分復(fù)用器（WDM）；波分復(fù)用器信號的輸出端連接光分路器（高回損光分路器），高回損光分路器的輸出端通過FC/APC接頭和測試線連接到被測跳線的前端面上，高回損光分路器的回損信號端連接回損測試模塊；回損測試模塊與中央處理器之間進行信息傳輸，還包括一個能夠提供時間基準的時鐘芯片，時鐘芯片分別與回損測試模塊和中央處理器連接為它們提供基準時間。?????進一步的還可以在被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。?

其工作原理如下：?

在測試時，先選定需要測試的波長，CPU控制相應(yīng)(光發(fā)射模塊)波長激光器發(fā)射脈沖信號，同時時鐘芯片記錄時間進行同步，回損測試模塊記錄返回的菲涅爾反射，因為被測光鏈路上不同端面的反射光反射回來存在時間差，回損測試模塊通過與時鐘芯片的同步，可以將不同端面的反射值區(qū)分開，由此采用光時域反射原理，直接測量光纖連接器端面的菲涅爾反射，并可以將不同光纖連接器端面的菲涅爾反射區(qū)分開，避免了將光纖進行纏繞，也提升了測試效率，一次性可將連接器的插損回損同時測試。