[實用新型]探針卡及測試機臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420109554.0 | 申請日： | 2014-03-12 |
| 公開（公告）號： | CN203849368U | 公開（公告）日： | 2014-09-24 |
| 發(fā)明（設計）人： | 張傳益;鄒俊杰 | 申請（專利權）人： | 標準科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01R31/02;G01R1/073 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 任巖 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 探針 測試 機臺 | ||
1.一種探針卡，其特征在于，包含：
一彈性薄膜板，具有一上表面及相對于該上表面的一下表面，在該彈性薄膜板上形成多個測試區(qū)，并于每該測試區(qū)上具有多個由該彈性薄膜板的上表面貫穿至該彈性薄膜板的下表面的貫穿孔；及
多個金屬材質，填入每該測試區(qū)上所述貫穿孔中，并于該彈性薄膜板的上表面形成多個焊墊，于該彈性薄膜板的下表面形成多個探針，且所述探針與所述金屬材質為一體成型；
其中，每該探針具有一斜接觸面。
2.根據權利要求1所述的探針卡，其特征在于，其中該斜接觸面的斜角為15—30度。
3.根據權利要求1所述的探針卡，其特征在于，其中該斜接觸面上進一步具有一弧狀平面。
4.根據權利要求1所述的探針卡，其特征在于，其中該彈性薄膜板為一高分子材料。
5.根據權利要求4所述的探針卡，其特征在于，其中該高分子材料為聚酰亞胺。
6.一種測試機臺，由一測試座及一探針卡所組成，該測試座下方具有多個接點，且該探針卡配置于該測試座下方，其中該探針卡的特征在于：
該探針卡，包含：
一彈性薄膜板，具有一上表面及相對于該上表面的一下表面，在該彈性薄膜板上形成多個測試區(qū)，并于每該測試區(qū)上具有多個由該彈性薄膜板的上表面貫穿至該彈性薄膜板的下表面的貫穿孔；及
多個金屬材質，填入每該測試區(qū)上所述貫穿孔中，并于該彈性薄膜板的上表面形成多個焊墊，并使所述焊墊與該測試座的所述接點電性連接，于該彈性薄膜板的下表面形成多個探針，且所述探針與所述金屬材質為一體成型；
其中，每該探針具有一斜接觸面。
7.根據權利要求6所述的測試機臺，其特征在于，其中該斜接觸面的斜角為1530度。
8.根據權利要求6所述的測試機臺，其特征在于，其中該斜接觸面上進一步具有一弧狀平面。
9.根據權利要求6所述的測試機臺，其特征在于，其中該彈性薄膜板為一高分子材料。
10.根據權利要求9所述的測試機臺，其特征在于，其中該高分子材料為聚酰亞胺。
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