[實用新型]氣體濃度檢測裝置

有效

• 申請號: 201420093675.0
• 申請日: 2014-03-03
• 公開（公告）號: CN203786031U
• 公開（公告）日: 2014-08-20
• 發明（設計）人: 林增隆
• 申請（專利權）人: 熱映光電股份有限公司
• 主分類號: G01N21/3504
• 分類號: G01N21/3504
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;李靜

1.一種氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述氣體濃度檢測裝置包含：

一電路基板；

一檢測單元，所述檢測單元設置于所述電路基板上，所述檢測單元具有一采樣室、一第一開口端、一相對于所述第一開口端的第二開口端及多個通氣口，其中所述第一開口端及所述第二開口端通過所述采樣室相互連通，所述通氣口穿過所述采樣室且設置于所述第一開口端與所述第二開口端之間，所述采樣室為長方形采樣室，所述通氣口為長方形通氣口；

一光源發射器，所述光源發射器設置于所述第一開口端，且電性連接于所述電路基板，其中所述光源發射器為一紅外線光源；以及

一光源傳感器，所述光源傳感器設置于所述第二開口端，且電性連接于所述電路基板，其中所述光源傳感器為一雙通道紅外線的光源傳感器；

其中，所述雙通道紅外線的光源傳感器具有一第一紅外線收集窗口及一第二紅外線收集窗口，所述第一紅外線收集窗口的邊界與所述第二紅外線收集窗口的邊界之間的距離為一第一距離，所述第一紅外線收集窗口及所述第二紅外線收集窗口的高度為第二距離，所述采樣室的寬度大于所述第一距離0.1毫米至4毫米之間，所述采樣室的高度大于所述第二距離0.1毫米至4毫米之間；

其中，所述第一紅外線收集窗口與所述第二紅外線收集窗口之間的距離為一第三距離，所述通氣口的寬度小于或等于所述第三距離。

2.一種氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述氣體濃度檢測裝置包含：

一電路基板；

一檢測單元，所述檢測單元設置于所述電路基板上，所述檢測單元具有一采樣室、一第一開口端、一相對于所述第一開口端的第二開口端及多個通氣口，其中所述第一開口端及所述第二開口端通過所述采樣室相互連通，所述通氣口穿過所述采樣室且設置于所述第一開口端與所述第二開口端之間；

一光源發射器，所述光源發射器設置于所述第一開口端，且電性連接于所述電路基板；以及

一光源傳感器，所述光源傳感器設置于所述第二開口端，且電性連接于所述電路基板。

3.根據權利要求2所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述通氣口相互對稱地垂直穿過并設置于所述采樣室上。

4.根據權利要求2所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述光源傳感器為一雙通道紅外線的光源傳感器，所述光源發射器為一紅外線光源。

5.根據權利要求4所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述采樣室為長方形采樣室，所述通氣口為長方形通氣口，所述雙通道紅外線傳感器具有一第一紅外線收集窗口及一第二紅外線收集窗口，所述第一紅外線收集窗口的邊界與所述第二紅外線收集窗口的邊界之間的距離為一第一距離，所述第一紅外線收集窗口及所述第二紅外線收集窗口的高度為第二距離，所述采樣室的寬度比所述第一距離大0.1毫米至4毫米之間，所述采樣室的高度比所述第二距離大0.1毫米至4毫米之間，所述第一紅外線收集窗口與所述第二紅外線收集窗口之間的距離為一第三距離，所述通氣口的寬度小于或等于所述第三距離。

6.根據權利要求2所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述通氣口設有一防水透氣膜。

7.根據權利要求2所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述采樣室為長方形狀且設有一反射層，所述采樣室為塑膠及鋁合金材質之中的其中一種。

8.根據權利要求7所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述反射層為鋁合金電鍍設置或塑膠電鍍設置。

9.根據權利要求7所述的氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述反射層具有金金屬或鎳金屬。

10.一種氣體濃度檢測裝置，其特征在于，所述氣體濃度檢測裝置包含：

一電路基板；

一檢測單元，所述檢測單元設置于所述電路基板上，所述檢測單元具有一采樣室、一第一開口端、一相對于所述第一開口端的第二開口端及多個通氣口，其中所述采樣室具有一上采樣室及一下采樣室，所述第一開口端及所述第二開口端通過所述采樣室相互連通，所述通氣口穿過所述采樣室且設置于所述第一開口端與所述第二開口端之間；

一光源發射器，所述光源發射器設置于所述第一開口端，且電性連接于所述電路基板；以及

一光源傳感器，所述光源傳感器設置于所述第二開口端，且電性連接于所述電路基板。