[實用新型]用于檢測圓柱形工件內凹臺階高度的高精度檢具有效
| 申請號: | 201420049528.3 | 申請日: | 2014-01-25 |
| 公開(公告)號: | CN203758419U | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發明(設計)人: | 鄧瑞祥 | 申請(專利權)人: | 深圳市依諾威電子有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/02 | 分類號: | G01B5/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢測 圓柱形 工件 臺階 高度 高精度 | ||
技術領域
本申請涉及工件檢測技術領域,尤其涉及一種用于檢測圓柱形工件內凹臺階高度的高精度檢具。
背景技術
現有技術中,通常采用卡尺等手持測量工具對工件的內凹臺階高度進行檢測,這種檢測方式不僅常因人為操作誤差而導致檢測結果不準確,且無法滿足工件工業化批量生產的檢測需求。
發明內容
本申請提供一種用于檢測圓柱形工件內凹臺階高度的高精度檢具,檢測結果精準,檢測效率高,且制造成本低。
本申請提供一種用于檢測圓柱形工件內凹臺階高度的高精度檢具,包括:基座、固定于所述基座上的高度計,以及與所述基座分體式設置的標準校正塊;所述基座對應于所述高度計設置有與待檢測工件外表面相吻合以放置待檢測工件的工件放置槽,該工件放置槽的延伸方向與所述待檢測工件的內凹臺階凹陷方向一致,所述高度計設置有可沿所述工件放置槽延伸方向往返直線移動以與所述內凹臺階的臺階面或所述標準校正塊的校正面相抵接或分離的測量桿,所述基座于所述工件放置槽的靠所述高度計一端設置有與所述待檢測工件的靠近所述內凹臺階一側的外端面或所述校正面相抵接的基準面。
進一步地,所述高度計設置有與所述測量桿同軸設置且一端與所述測量桿相連而另一端伸出所述高度計主體的拉桿。
進一步地,所述測量桿的端部設置有端面垂直于所述測量桿的檢測頭。
進一步地,所述高度計通過設置于所述基座一側的安裝座固定于所述基座上。
進一步地,所述高度計設置有固定桿,所述安裝座上開設有供所述固定桿穿設的固定孔,并通過螺釘固定所述固定桿。
進一步地,所述固定桿與所述測量桿同軸設置并套設于所述測量桿外。
進一步地,所述高度計為數字顯示高度計。
本申請的有益效果是:
通過提供一種檢具,采用設置有測量桿的高度計作為測量器具,利用設于基座上的基準面及設于標準校正塊上的校正面實現高度計的歸零設置,并利用設于基座上的工件放置槽及基準面實現待檢測工件的精確定位,進而通過高度計測得待檢測工件內凹臺階的高度,測量結果精準,測量方式簡單,可實現機械化快速操作,滿足現代化工業生產需求,且該檢具結構簡單,制作方法簡便,制造成本低。
附圖說明
圖1為本申請檢具未放置標準校正塊的結構示意圖。
圖2為本申請檢具放置標準校正塊狀態的結構示意圖。
圖3為本申請檢具放置好標準校正塊的俯視面結構示意圖。
圖4為本申請檢具檢測狀態的俯視面結構示意圖。
圖5為圖4中的A部放大圖。
圖6為本申請檢具檢測狀態的剖面結構示意圖。
圖7為圖6中的B部放大圖。
具體實施方式
下面通過具體實施方式結合附圖對本申請作進一步詳細說明。
請參考圖1~圖7,本申請提供一種檢具,用于檢測圓柱形工件內凹臺階的高度,包括基座10、固定于所述基座10上的高度計20,以及與所述基座10分體式設置的標準校正塊30,所述標準校正塊30用以與所述基座10配合完成所述高度計20的歸零設置。
如圖1所示,所述高度計20采用現有通用結構,包括設置有檢測結果顯示裝置及操作鍵的高度計主體21、可伸縮的設置于所述高度計主體21上以完成檢測作業的測量桿22,以及與所述測量桿22同軸設置的拉桿23,所述拉桿23一端與所述測量桿22相連而另一端伸出所述高度計主體21。
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