[實用新型]一種用于磁瓦檢測的光源裝置

有效

• 申請號: 201420041508.1
• 申請日: 2014-01-23
• 公開（公告）號: CN203688435U
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 劉培勇;唐明星;李元興
• 申請（專利權）人: 成都四星液壓制造有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 劉凱

技術領域

本實用新型涉及機械工程照明技術領域，特別涉及一種用于磁瓦檢測的光源裝置。

背景技術

在基于機器視覺的磁瓦表面缺陷檢測方法中，主要包括磁瓦圖像獲取、圖像預處理、特征提取與選擇、模式分類四個基本步驟。成像質量是機器視覺應用系統成敗的關鍵。一個好的成像系統應盡可能獲取高質量的圖像，盡可能突出檢測目標的特征，以降低圖像的處理難度，提高圖像的處理速度。

在機器視覺檢測系統中，光源和照明是目前機器視覺應用系統成敗的關鍵，好的光源照明應當具有以下特征：

1、盡可能突出目標的特征，在物體需要檢測的部分與非檢測部分之間盡可能產生明顯的區別，增加對比度；

2、保證足夠的亮度和穩定性；

3、物體位置的變化不應影響成像的質量。由于LED光源具有顯色性好、發光強度高、衰減小和壽命長等優點，在機器視覺領域得到了越來越廣泛的應用。

一般來說，一套機器視覺系統是專為某型號產品設計的，在光源配置、機械設計和算法設計等方面都存在特定性，很難做到一套機器視覺系統檢測多種差異較大的產品。而磁瓦是典型的單件薄利、大批量生產的產品。由于磁瓦種類規格繁多，尺寸及形狀差異很大，檢測面多，生產節拍很快，產量很高，加之磁瓦本身缺陷種類很多（主要包括裂紋、崩爛、倒角、欠磨、起級和夾層等），有些缺陷特征也不明顯。這些原因都導致了基于機器視覺的磁瓦表面缺陷檢測方法極其困難。基于機器視覺的磁瓦表面缺陷檢測方法難于取得進展的一個重要原因就是磁瓦成像系統難以適應磁瓦形狀和尺寸的多樣性，而在成像過程中，具有多樣性調整能力的光源裝置則是關鍵所在。

實用新型內容

本實用新型的發明目的在于，針對上述存在的問題，提供一種在磁瓦檢測中，能夠根據所檢測磁瓦的形狀和尺寸的不同進行適應性調整的光源裝置。

本實用新型的技術方案是這樣實現的：一種用于磁瓦檢測的光源裝置，包括半球形燈罩、與半球形燈罩底部連接的燈罩底板以及設置在燈罩底板上、分布在半球形燈罩底部內側的弧形光源組，其特征在于：在所述半球形燈罩下部兩側對稱地設置磁瓦通過槽，在半球形燈罩一側設置相機成像開口槽，在所述半球形燈罩內設置有與調節機構連接的遮光板，所述遮光板在調節機構作用下沿半球形燈罩軸向作上下移動。

本實用新型所述的用于磁瓦檢測的光源裝置，其所述調節機構包括調節螺桿、設置在半球形燈罩頂部的螺套以及鎖緊螺母，所述調節螺桿下端與遮光板連接且與螺套通過螺紋連接，通過轉動調節螺桿帶動遮光板上下移動且由鎖緊螺母進行鎖緊固定。

本實用新型所述的用于磁瓦檢測的光源裝置，其在所述遮光板上、靠近相機成像開口槽一側設置有讓位槽。

本實用新型所述的用于磁瓦檢測的光源裝置，其所述燈罩底板與圓弧支架連接，所述圓弧支架通過光源升降組件與安裝支架連接。

本實用新型所述的用于磁瓦檢測的光源裝置，其所述光源升降組件包括螺桿、升降鎖緊螺母以及升降調節螺母，所述螺桿上端與安裝支架連接，其下端穿過圓弧支架，所述升降鎖緊螺母和升降調節螺母分別置于圓弧支架頂部上下兩側且與螺桿通過螺紋連接。

本實用新型通過對燈罩的結構設計，能夠完全適應磁瓦的流水線式輸送、檢測要求，同時，根據所檢測磁瓦的形狀和尺寸的不同，通過遮光板的調節或者光源裝置整體位置的調節，與成像相機進行配合，從而實現對通過光源裝置中的磁瓦端面的檢測。

附圖說明

圖1是本實用新型的使用狀態示意圖。

圖2和圖3是本實用新型的結構示意圖。

圖中標記：1為半球形燈罩，2為燈罩底板，3為磁瓦通過槽，4為相機成像開口，5為遮光板，6為調節螺桿，7為螺套，8為鎖緊螺母，9為圓弧支架，10為安裝支架，11為螺桿，12為升降鎖緊螺母，13為升降調節螺母，14為讓位槽。

具體實施方式

下面結合附圖，對本實用新型作詳細的說明。

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。