[發明專利]信號覆蓋質量呈現方法和裝置

有效

• 申請號: 201410851003.6
• 申請日: 2014-12-30
• 公開（公告）號: CN104581811B
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 丁均泉;梁冰;孫文杰
• 申請（專利權）人: 杭州華為數字技術有限公司
• 主分類號: H04W24/10
• 分類號: H04W24/10;H04W24/04
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
• 代理人: 楊貝貝,黃健

1.一種信號覆蓋質量呈現方法，其特征在于，包括：

獲取信號覆蓋區域內待呈現建筑樓的待呈現樓層中的用戶設備UE上報的N個測量報告MR數據，所述N為大于或等于1的整數，所述待呈現建筑樓為所述信號覆蓋區域中的任一建筑樓，所述待呈現樓層為所述待呈現建筑樓中的任一樓層；

根據所述N個MR數據，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識；

在所述待呈現建筑樓所對應的三維3D模擬建筑樓中的待呈現樓層的外部標示所述標識；

所述根據所述N個MR數據，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識，包括：

確定所述N個MR數據中滿足預設條件的MR數據的個數M，所述M為大于或等于1，且小于或等于所述N的整數；

根據所述M與所述N的比值，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識；

或者，所述根據所述N個MR數據，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識，包括：

確定所述N個MR數據中分別滿足H個不同預設條件的MR數據的個數的值，所述H為大于或等于2的整數，所述H個個數的值之和等于所述N；

根據確定的所述H個個數的值之間的大小關系，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述M與所述N的比值，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識，包括：

當所述M與所述N的比值大于或等于第一預設值時，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識為第一標識；

當所述M與所述N的比值小于或等于第二預設值時，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識為第二標識；

當所述M與所述N的比值小于所述第一預設值并且大于所述第二預設值時，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識為第三標識；

其中，所述第一預設值大于所述第二預設值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據確定的所述H個個數值之間的大小關系，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識，包括：

根據所述H個個數值之間的大小關系，確定所述待呈現樓層的信號覆蓋質量等級；

根據所述待呈現樓層的信號覆蓋質量等級，確定與所述信號覆蓋質量等級對應的所述標識；

其中，不同信號覆蓋質量等級對應的標識不相同。

4.根據權利要求1或3所述的方法，其特征在于，當所述H為3時，所述確定所述N個MR數據中分別滿足H個不同預設條件的MR數據的個數值，包括：

確定所述N個MR數據中滿足第一預設條件的MR數據的個數為X、滿足第二預設條件的MR數據的個數為Y、滿足第三預設條件的MR數據的個數為Z；

所述根據確定的所述H個個數值之間的大小關系，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識，包括：

根據所述X、所述Y、所述Z相互之間的大小關系，確定與所述待呈現樓層的信號覆蓋質量對應的標識；

其中，所述X、所述Y、所述Z分別為大于或等于0，且小于或等于所述N的整數，所述X+所述Y+所述Z等于所述N。