[發(fā)明專利]一種檢測電路及顯示裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410849907.5
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104575343A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王醉;郭晉波
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測電路及顯示裝置。

背景技術(shù)

在傳統(tǒng)的顯示面板的線路設(shè)計中，通常會在像素區(qū)域的外側(cè)設(shè)計短路條/短路棒(Shorting?Bar)的外圍走線，并將掃描線按照奇數(shù)和偶數(shù)分別引出至該外圍走線。即，整個顯示面板上的奇數(shù)和偶數(shù)掃描線在所述顯示面板的外圍各自短接在一起。這種設(shè)計是為了在TFT(Thin?Film?Transistor，薄膜晶體管)制程的檢測環(huán)節(jié)中，可以通過給奇數(shù)和偶數(shù)掃描線不同的電訊號來檢查所述顯示面板內(nèi)是否存在短路或斷路的情況，配合不同的數(shù)據(jù)信號還可以檢查出其他類型的不良。短路條也會被用于液晶盒制程中的點燈檢測環(huán)節(jié)，并在檢測后被斷開或去除，使其不會影響到成品的正常顯示。

如圖1所示，如果同一行的充電掃描線103和電荷共享掃描線104間發(fā)生短路(第二短路位置102或第一短路位置101)，由于該電荷共享掃描線與后面第N+偶數(shù)的充電掃描線相連(其中，N為正整數(shù))，使得二者在順序上皆為奇數(shù)或偶數(shù)，那么僅通過上述奇偶分別引出的短路條的檢測方式是無法在TFT制程段將短路現(xiàn)象檢出的，只能依靠Cell點燈甚至成品檢測的方式方能檢出，因此會導(dǎo)致產(chǎn)品良率降低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種檢測電路及顯示裝置，以高效且精準(zhǔn)地對顯示裝置中出現(xiàn)的異常現(xiàn)象進(jìn)行檢測，從而提高顯示裝置的良率。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施方式提供如下技術(shù)方案：

本發(fā)明供了一種檢測電路，用于對顯示裝置的異常狀況進(jìn)行檢測，所述檢測電路包括第一至第三檢測線、第一及第二控制線及第一至第六組晶體管，所述第一至第六組晶體管連接至所述顯示裝置的第一至第六掃描線，其中，每組晶體管均包括第一晶體管及第二晶體管，所述第一晶體管的控制端均連接至所述第一控制線，所述第一晶體管的第一端連接至所述第一至第三檢測線中的一根檢測線，所述第二晶體管的控制端均連接至所述第二控制線，所述第二晶體管的第一端連接至所述第一至第三檢測線中的一根檢測線，所述第一晶體管的第二端連接至同組的第二晶體管的第二端，并連接至所述第一至第六掃描線中的一根掃描線，一組晶體管對應(yīng)一個掃描線，所述第一至第六組晶體管的第一及第二晶體管的第一端與所述第一至第三檢測線的連接節(jié)點構(gòu)成預(yù)設(shè)點集合，所述預(yù)設(shè)點集合為[(3,3),(2,2),(3,1),(2,3),(3,2),(2,1)]，其中，在所述預(yù)設(shè)點集合中，數(shù)字1、2及3代表第一至第三檢測線，該點的第一位數(shù)字表示所述第一晶體管的第一端與該第一位數(shù)字代表的檢測線連接，該點的第二位數(shù)字表示所述第二晶體管的第一端與該第二數(shù)字代表的檢測線連接，通過所述第一及第二控制線來控制所述第一或第二晶體管閉合來對所述顯示裝置的異常狀況進(jìn)行檢測。

其中，所述第一組晶體管的第一及第二晶體管的第一端均連接至所述第三檢測線，所述第一組晶體管的第一及第二晶體管的第二端均連接至所述第一掃描線，所述第二組晶體管的第一及第二晶體管的第一端均連接至所述第二檢測線，所述第二組晶體管的第一及第二晶體管的第二端均連接至所述第二掃描線，所述第三組晶體管的第一晶體管的第一端連接至第三檢測線，所述第三組晶體管的第二晶體管的第一端連接至所述第一檢測線，所述第三組晶體管的第一及第二晶體管的第二端均連接至所述第三掃描線，所述第四組晶體管的第一晶體管的第一端連接至所述第二檢測線，所述第四組晶體管的第二晶體管的第一端連接至所述第三檢測線，所述第四組晶體管的第一及第二晶體管的第二端均連接至所述第四掃描線，所述第五組晶體管的第一晶體管的第一端連接至所述第三檢測線，所述第五組晶體管的第二晶體管的第一端連接至所述第二檢測線，所述第五組晶體管的第一及第二晶體管的第二端連接所述第五掃描線，所述第六組晶體管的第一晶體管的第一端連接至所述第二檢測線，所述第六組晶體管的第二晶體管的第一端連接至所述第一檢測線，所述第六組晶體管的第一及第二晶體管的第二端均連接至所述第六掃描線。

其中，所述第一至第六組晶體管沿著預(yù)設(shè)方向依次排布設(shè)置，所述第一至第六掃描線沿著所述預(yù)設(shè)方向依次排布設(shè)置。

其中，所述第一至第六組晶體管的第一晶體管及第二晶體管均為N型晶體管，所述第一及第二晶體管的控制端、第一端及第二端分別為N型晶體管的柵極、源極及漏極。

其中，所述第一至第六掃描為第一至第六充電掃描線。