[發明專利]一種工件光學測試機構

在審

• 申請號: 201410848448.9
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104568388A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 陳億善;薄克艷
• 申請（專利權）人: 愛彼思（蘇州）自動化科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.?一種工件光學測試機構，包括中空的暗箱，所述暗箱中設有光學測試裝置，其特征是，還包括若干傳送裝置，所述暗箱設置在傳送裝置的傳送方向上，至少有相對處于所述傳送方向上游的一側設置供工件通過的開口，并設有能夠打開和封閉所述開口的活動門。

2.?根據權利要求1所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述傳送裝置穿過暗箱設置，且所述活動門上開設容納所述傳送裝置行進的缺口。

3.?根據權利要求2所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述活動門上沿垂直于傳送方向的方向設有多個適應不同位置傳送裝置通行的所述缺口。

4.?根據權利要求1所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述暗箱相對處于所述傳送方向上游和下游的兩側均設置所述開口和對應的所述活動門，暗箱中設置一氣缸同時控制兩扇所述活動門的打開和封閉。

5.?根據權利要求4所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述傳送裝置穿過暗箱并偏向暗箱一側設置，暗箱近于傳送裝置的一側為第一側面，所述活動門通過靠近和遠離所述第一側面進行打開和封閉，且活動門面向所述第一側面的一側開設容納所述傳送裝置行進的缺口。

6.?根據權利要求5所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述暗箱中設有限制所述活動門在氣缸驅動下行進方向的限位機構。

7.?根據權利要求6所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述限位機構包括平行于所述氣缸軸線方向設置的導軌，以及設于活動門上與所述導軌配合的滑塊。

8.?根據權利要求1所述的一種工件光學測試機構，其特征是，所述傳送裝置上至少設有兩個沿所述傳送方向排列的分別用于支撐工件的放置治具。