[發明專利]雙站底部測試分光機

在審

• 申請號: 201410843653.6
• 申請日: 2014-12-30
• 公開（公告）號: CN104438136A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發明（設計）人: 趙玉濤
• 申請（專利權）人: 深圳市炫碩光電科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及機械領域，特別涉及一種雙站底部測試分光機。

背景技術

分光機是通過對LED發出光的波長(顏色)、光強、電流電壓大小進行分類篩選的機器，其工作原理是由圓形振動盤與平行振動軌道負責送料，通過吸咀將LED送至轉盤，經由測試站量測光電特性之后，系統會根據量測儀器的測試結果，(主要包括波長(顏色)、光強、電流電壓大小進行分類)通過分料機構將LED送至所屬落料盒。

發明內容

本發明提供了一種結構簡單、成本低、可進行兩站測試的雙站底部測試分光機。

為解決上述問題，作為本發明的一個方面，提供了一種雙站底部測試分光機，包括：振動盤、抓料機構、第一定位機構、第一底部測試機構、第二定位機構、第二底部測試機構、分度盤機構、吹料機構；振動盤將物料輸送至平軌定位處，然后抓料機構將物料通過其吸嘴抓取后，放入分度盤機構的入料口；分度盤機構轉動從而將物料運送至第一定位機構處，第一定位機構將物料定位后，由第一底部測試機構對物料進行第一站測試，然后由分度盤機構將物料運送至第二定位機構處，由第二底部測試機構對物料進行第二站測試，最后，由分度盤機構將物料運動至吹料機構處，吹料機構將物料吹入下料軟管中。

由于采用了上述結構，本發明具有結構簡單、成本低、可進行兩站測試的特點。

附圖說明

圖1示意性地示出了本發明的結構示意圖。

圖中附圖標記：1、振動盤；2、抓料機構；3、第一定位機構；4、第一底部測試機構；5、第二定位機構；6、第二底部測試機構；7、分度盤機構；8、吹料機構。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的實施例進行詳細說明，但是本發明可以由權利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。

請參考圖1，本發明提供了一種雙站底部測試分光機，包括：振動盤1、抓料機構2、第一定位機構3、第一底部測試機構4、第二定位機構5、第二底部測試機構6、分度盤機構7、吹料機構8；振動盤1將物料輸送至平軌定位處，然后抓料機構2將物料通過其吸嘴抓取后，放入分度盤機構7的入料口；分度盤機構7轉動從而將物料運送至第一定位機構3處，第一定位機構3將物料定位后，由第一底部測試機構4對物料進行第一站測試，然后由分度盤機構7將物料運送至第二定位機構5處，由第二底部測試機構6對物料進行第二站測試，最后，由分度盤機構7將物料運動至吹料機構8處，吹料機構8將物料吹入下料軟管中。

特別地，本發明中的振動盤1、抓料機構2、第一定位機構3、第一底部測試機構4、第二定位機構5、第二底部測試機構6、分度盤機構7、吹料機構8等，均可采用現有技術中本領域已知的相應結構實現，在此不再贅述。

由于采用了上述結構，本發明具有結構簡單、成本低、可進行兩站測試的特點。

以上所述僅為本發明的優選實施例而已，并不用于限制本發明，對于本領域的技術人員來說，本發明可以有各種更改和變化。凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。