[發明專利]測試器件及其操作方法

有效

• 申請號: 201410838237.7
• 申請日: 2014-12-29
• 公開（公告）號: CN104977522B
• 公開（公告）日: 2019-05-31
• 發明（設計）人: 金鎮昱
• 申請（專利權）人: 愛思開海力士有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 俞波;毋二省

1.一種測試器件，包括：

電路建模部，其適于通過以測試目標電路與模型電路之間的一對一或一對多的關系對測試目標電路建模來產生一個或多個所述模型電路；以及

測試操作部，其適于將所述模型電路合成、以及對所述模型電路執行測試操作，

其中，所述電路建模部以所述一對多的關系對所述測試目標電路建模，以基于所述測試目標電路的延遲量來產生不同類型的所述模型電路。

2.一種操作測試器件的方法，包括：

利用一對一的關系來對測試目標電路的第一測試目標電路建模，以產生第一模型電路；

利用一對多的關系來對所述測試目標電路的第二測試目標電路建模，以產生第二模型電路；以及

通過將所述第一模型電路和所述第二模型電路合成來執行測試操作，

其中，對所述第二測試目標電路建模包括：

基于所述第二測試目標電路的延遲量來確定所述第二模型電路的電路類型。

3.如權利要求2所述的方法，其中，對所述第二測試目標電路建模包括：

當所述延遲量小于預定的延遲量時，產生第一類型的第二模型電路；以及

當所述延遲量大于或等于所述預定的延遲量時，產生第二類型的第二模型電路。

4.如權利要求3所述的方法，其中，所述第一類型的第二模型電路的電路面積與所述延遲量成正比。

5.如權利要求3所述的方法，其中，所述第一類型的第二模型電路在與所述延遲量相對應的時段期間執行移位操作。

6.如權利要求3所述的方法，其中，所述第二類型的第二模型電路的電路面積大體上是恒定的，而與所述延遲量無關。

7.如權利要求3所述的方法，其中，所述第二類型的第二模型電路執行計數操作，其中執行計數操作的次數與所述延遲量相對應。

8.如權利要求3所述的方法，其中，所述第一類型的第二模型電路和所述第二類型的第二模型電路是同步電路。

9.一種測試器件，包括：

電路建模部，其適于基于測試目標電路的延遲量來產生各種類型的模型電路；以及測試操作部，其適于將所述模型電路合成、以及對所述模型電路執行測試操作，

其中，所述模型電路包括當所述延遲量低于預定的延遲量時產生的第一類型的模型電路、和當所述延遲量大于或等于所述預定的延遲量時產生的第二類型的模型電路。

10.如權利要求9所述的測試器件，其中，所述第一類型的模型電路的電路面積與所述延遲量成正比。

11.如權利要求9所述的測試器件，其中，所述第一類型的模型電路包括移位電路，所述移位電路適于在與所述延遲量相對應的時段期間將輸入信號移位。

12.如權利要求9所述的測試器件，其中，所述第二類型的模型電路的電路面積大體上是恒定的，而與所述延遲量無關。

13.如權利要求9所述的測試器件，其中，所述第二類型的模型電路包括：

計數單元，其適于響應于輸入信號來計數；以及

比較單元，其適于將所述延遲量與所述計數單元的輸出信號進行比較、以及輸出比較的結果。