[發(fā)明專利]一種自動光學(xué)檢測設(shè)備及方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410831526.4 | 申請日: | 2014-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN104535583A | 公開(公告)日: | 2015-04-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王錦峰;張敏 | 申請(專利權(quán))人: | 東莞市神州視覺科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/89 | 分類號: | G01N21/89 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司 11332 | 代理人: | 路凱;胡彬 |
| 地址: | 523128 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 自動 光學(xué) 檢測 設(shè)備 方法 | ||
1.一種自動光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于,包括運(yùn)動模塊、運(yùn)動控制模塊、安裝于運(yùn)動模塊上圖像采集模塊以及光源照明模塊和圖像處理模塊,所述運(yùn)動控制模塊用于控制運(yùn)動模塊上的圖像采集模塊的運(yùn)動方式,所述運(yùn)動方式為所述圖像采集模塊將會按照設(shè)定速度依次經(jīng)過設(shè)定的目標(biāo)位置,所述設(shè)定速度不為零,經(jīng)過所述目標(biāo)位置時(shí)所述運(yùn)動控制模塊將采集圖像的信號發(fā)送到圖像采集模塊上的信號接收端;所述光源照明模塊為圖像采集模塊提供光源;所述圖像處理模塊用于處理、對比采集到的待檢測件的圖像,得出檢測結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于,所述運(yùn)動模塊為XY運(yùn)動平臺,所述運(yùn)動控制模塊為XY運(yùn)動平臺控制系統(tǒng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于,圖像采集模塊包括相機(jī),所述相機(jī)為工業(yè)相機(jī)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于,所述圖像處理模塊包括計(jì)算機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動光學(xué)檢測設(shè)備,其特征在于,所述光源照明模塊安裝于所述運(yùn)動模塊上,所述光源照明模塊包括LED燈,所述LED燈采用最大的電流值。
6.一種利用權(quán)利要求1-5任一所述的自動光學(xué)檢測裝置實(shí)現(xiàn)的自動光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
A、所述運(yùn)動模塊上的圖像采集模塊按照所述設(shè)定速度依次經(jīng)過設(shè)定的目標(biāo)位置,經(jīng)過所述目標(biāo)位置時(shí),圖像采集模塊對待檢測件進(jìn)行圖像采集;
B、所述圖像處理模塊對圖像采集模塊采集到待檢測件的圖像進(jìn)行處理,并與合格產(chǎn)品的圖像進(jìn)行對比,得出檢測結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述步驟A中,圖像采集前,光源照明模塊采用最大的亮度值照射待檢測件。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述步驟A中的圖像采集模塊包括工業(yè)相機(jī),光源照明模塊包括LED燈,將流經(jīng)LED燈的電流調(diào)整為最大值;當(dāng)?shù)竭_(dá)對目標(biāo)位置時(shí),運(yùn)動控制模塊發(fā)送一個(gè)采集圖像的信號傳送到圖像采集模塊上的信號接收端,所述工業(yè)相機(jī)瞬間曝光,工業(yè)相機(jī)內(nèi)的感光芯片根據(jù)反射光的強(qiáng)弱得到反映待檢測件特征的圖像。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述步驟B中的圖像處理模塊包括計(jì)算機(jī),在圖像處理過程中,采用圖像處理技術(shù)依次處理所述圖像采集模塊傳遞給計(jì)算機(jī)內(nèi)存中的圖像。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動光學(xué)檢測方法,其特征在于,所述步驟A中的圖像采集模塊的運(yùn)動速度和圖像采集速度與所述步驟B中圖像處理模塊的圖像處理速度互不影響。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
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