[發明專利]TM模介質諧振器

有效

• 申請號: 201410827313.4
• 申請日: 2014-12-26
• 公開（公告）號: CN104733828B
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發明（設計）人: 崔元昤
• 申請（專利權）人: 東莞鴻愛斯通信科技有限公司
• 主分類號: H01P7/10
• 分類號: H01P7/10
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;郝傳鑫

本發明公開了一種TM模介質諧振器，包括腔體、介質諧振柱、金屬蓋板以及和設置于金屬蓋板和介質諧振柱之間的PEI彈性片和內薄蓋板，內薄蓋板包括邊緣部以及在與介質諧振柱對應的位置處向下凹陷形成的第一凹槽，金屬蓋板的內側開設有限位PEI彈性片的第二凹槽，PEI彈性片設置于第一凹槽與第二凹槽之間且發生形變以使第一凹槽的底壁抵壓介質諧振柱，介質諧振柱夾緊于金屬蓋板與腔體的底壁之間。與現有技術相比，本發明TM模介質諧振器在介質諧振柱隨溫度冷縮時，PEI彈性片會在彈性勢能的作用下繼續抵壓第一凹槽使得第一凹槽的底壁保持與介質諧振柱的良好接觸，故TM模介質諧振器在較大的溫度范圍內均能夠保持良好的濾波性能。

技術領域

本發明涉及諧振器及濾波器技術領域，更具體的涉及一種TM模介質諧振器。

背景技術

介質諧振器是利用陶瓷介質材料的低損耗、高介電常數、頻率溫度系數和熱膨脹系數小、可承受高功率等特點設計制作的，其特點是插入損耗小、耐功率性好。常見的TM模介質諧振器主要由介質諧振柱和金屬腔體組成。TM模介質諧振器中介質諧振柱上下端面接地良好很重要，否則會影響諧振器的性能。然而，在溫度變化較大時，陶瓷介質諧振柱由于熱脹冷縮作用會導致其上端面與金屬腔體接觸不良，進而使得介質諧振柱上表面無法可靠的接地，影響介質諧振器的性能。

因此，急需提供一種在較大溫度范圍內能夠保持介質諧振柱的上端面接觸良好的介質諧振器。

發明內容

本發明的目的在于提供一種TM模介質諧振器，以使得介質諧振柱的上端面在較大溫度變化范圍內保持接觸良好，從而保證介質諧振器的性能。

為實現上述目的，本發明提供了一種TM模介質諧振器，包括腔體、設置于所述腔體內的介質諧振柱以及密封所述腔體以形成諧振腔的金屬蓋板，所述介質諧振柱為中空的圓柱體結構，其特征在于，所述介質諧振器還包括設置于所述金屬蓋板和所述介質諧振柱之間的PEI彈性片和內薄蓋板，所述內薄蓋板包括邊緣部以及在與所述介質諧振柱對應的位置處向下凹陷形成的第一凹槽，所述金屬蓋板的內側開設有限位所述PEI彈性片的第二凹槽，所述PEI彈性片設置于所述第一凹槽與所述第二凹槽之間且發生形變以使所述第一凹槽的底壁抵壓所述介質諧振柱，所述介質諧振柱夾緊于所述金屬蓋板與所述腔體的底壁之間。

與現有技術相比，本發明TM模介質諧振器包括腔體、設置于腔體內的介質諧振柱、金屬蓋板、內薄蓋板以及PEI彈性片，其中內薄蓋板包括邊緣部以及在與介質諧振柱對應的位置處向下凹陷形成的第一凹槽，金屬蓋板的內側開設有限位PEI彈性片的第二凹槽，PEI彈性片設置于第一凹槽與第二凹槽之間且發生形變以使第一凹槽的底壁抵壓介質諧振柱，介質諧振柱夾緊于金屬蓋板與腔體的底壁之間，從而當介質諧振柱隨溫度冷縮時，PEI彈性片會在彈性勢能的作用下繼續抵壓第一凹槽使得第一凹槽的底壁保持與介質諧振柱的良好接觸，故TM模介質諧振器在較大的溫度范圍內均能夠保持良好的濾波性能。

較佳地，所述第二凹槽為圓形凹槽，所述PEI彈性片為圓柱形PEI彈性片，且所述PEI彈性片的直徑等于或微小于所述第二凹槽的直徑以被所述第二凹槽限位。

較佳地，所述PEI彈性片的高度大于所述第一凹槽與所述第二凹槽二者的深度之和。

較佳地，所述PEI彈性片的形變量為0.5毫米。

較佳地，所述第一凹槽的底壁在與所述介質諧振柱的內徑對應的位置處開設有第一通孔，所述第二凹槽的底壁上開設有與所述第一通孔對應的調諧螺栓孔，所述PEI彈性片上開設有與所述調諧螺栓孔對應的第二通孔。

較佳地，所述腔體的底壁上凸設有與所述介質諧振柱的導電層相接觸的金屬安裝座，所述金屬安裝座的中心位置處固定有與所述介質諧振柱的內腔配合的限位柱，所述介質諧振柱套設于所述限位柱上，且所述介質諧振柱夾緊于所述金屬蓋板與所述安裝座的上端面之間。