[發明專利]一種立方相氧化鋯納米晶薄膜的制備方法有效
| 申請號: | 201410816703.1 | 申請日: | 2014-12-24 |
| 公開(公告)號: | CN104528822A | 公開(公告)日: | 2015-04-22 |
| 發明(設計)人: | 常永勤;張靜;王卡;萬康;陳林;陳瓊;龍毅 | 申請(專利權)人: | 北京科技大學 |
| 主分類號: | C01G25/02 | 分類號: | C01G25/02;C04B41/50 |
| 代理公司: | 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237 | 代理人: | 張仲波 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 立方 氧化鋯 納米 薄膜 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種制備工藝簡單、成本低廉的立方相氧化鋯納米晶薄膜的制備方法,屬于納米晶薄膜材料制備技術領域。
背景技術
核反應堆中的核燃料,如二氧化鈾、二氧化釷、二氧化钚等材料具有放射性,研究這些材料在輻照環境中的演化對研究條件的要求非常苛刻,同時研究過程具有一定的危險性。立方相氧化鋯(ZrO2)與上述材料具有相同的結構,但是沒有放射性,而且還具有非常優良的抗輻照性能,這使得它成為研究陶瓷氧化物在核反應堆中輻照行為的理想材料[K.E.Sickafus,H.Matzke,T.Hartmann,et?al.Journal?of?Nuclear?Materials.1999,274:66-67;Y.W.Zhang,W.L.Jiang,C.M?Wang,et?al.Physical?review?B,2010,82:184105]。立方相ZrO2是高溫穩定相,一般在室溫條件下不易獲得。目前國際上一般采用離子束輔助沉積(IBAD)方法來制備立方相ZrO2納米晶薄膜[J.Lian,J.Zhang,F.Namavar,et?al.Nanotechnology,2009,20:245303],這種方法合成的納米晶晶粒大小比較均勻,但是其操作工藝復雜,成本較高,而且可控性也比較差。也有報道將ZrSiO4進行離子束非晶化,獲得埋覆在非晶SiO2中的ZrO2納米晶[A.Meldrum,L.A.Boatner,R.C.Ewing.Physical?Review?Letters,2002,88:025503],但是這種方法制備出的ZrO2納米晶在輻照條件下容易非晶化。溶膠―凝膠方法制備工藝比較簡單,而且成本比較低廉。目前已報道的采用溶膠―凝膠方法合成的立方相ZrO2納米晶大部分是粉體材料[蔣銀花,倪良,李澄,等.無機鹽工業,2006,38:29-35],也有部分文獻報道在襯底上制備出ZrO2納米晶薄膜[A.Mehner,H.K.Westkamp,F.Hoffmann,et?al.Thin?Solid?Films,1997,308:363-368],但是仍然存在許多問題,如在襯底上涂覆的薄膜容易發生開裂、薄膜不平整、多孔、相不純、燒結溫度高等問題。
發明內容
本發明所要解決的問題是制備出一種晶粒大小均勻的、表面平滑無裂紋的、有穩定立方相的氧化鋯納米晶薄膜。提供了一種溶膠―凝膠法結合旋涂的方式,制備8YSZ的方法。
一種立方相氧化鋯納米晶薄膜的制備方法,制備步驟如下:
1)、分別采用分析純ZrOCl2·8H2O為鋯源,Y(NO3)3·6H2O為釔源,加入去離子水配制成濃度為0.4-0.8mol/L的ZrOCl2溶液,其中Zr:Y的摩爾比為0.92:0.16;
2)、以H2C2O4·2H2O為沉淀劑,加入去離子水,配制成與ZrOCl2溶液濃度比為0.5-1的溶液;將ZrOCl2溶液緩慢滴加到H2C2O4溶液中,制備成溶膠前驅體;
3)、以聚乙烯醇(PVA)溶液作為分散劑,乙酰丙酮作為溶膠穩定劑,分別加入到溶膠前驅體當中;其中PVA的質量濃度為5%-10%,溶膠前驅體當中PVA的質量分數為8%-12%,乙酰丙酮的體積分數為3%-5%;
4)、旋涂;以單晶Si作為襯底,勻膠機的轉速為7000-9000r/min,旋轉時間為50-100s;
5)、分級干燥處理,80℃保溫15-30min,50℃保溫30-60min,30℃保溫30-60min。將干燥好的薄膜進行300-400℃,20-50min的預燒結處理后再重復旋涂的步驟進行多次涂膜。
6)、燒結:涂膜階段完成后,進行500-1200℃,保溫0.5-1.5h的燒結處理,即可獲得穩定立方相的氧化鋯薄膜。
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