[發明專利]一種顆粒粒度及濃度光散射測量方法

有效

• 申請號: 201410779497.1
• 申請日: 2014-12-16
• 公開（公告）號: CN104515722A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 林學勇;李舒;許傳龍;張宸瑜
• 申請（專利權）人: 南京市計量監督檢測院
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N21/59
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

1.一種顆粒粒度光散射測量方法，其特征在于：包括如下步驟：

步驟一：測量t時刻兩個角度下的光強I_tΣ(θ₁)，I_tΣ(θ₂)，t+Δt時刻的光強I_t+ΔtΣ(θ₁)，I_t+ΔtΣ(θ₂)，則光強變化值為I_ΔtΣ(θ₁)＝I_t+ΔtΣ(θ₁)-I_tΣ(θ₁)，I_ΔtΣ(θ₂)＝I_t+ΔtΣ(θ₂)-I_tΣ(θ₂)；

步驟二：粒徑分布的測量，將兩個散射角的光強變化值代入以下公式即可得到顆粒粒徑尺寸分布函數

IΔtΣ(θ1)=Σj=1MI(θ1,Dj)N(Dj,D‾,k)=Σj=1MDj2αj216f2[2J1(αsinθ1)αsinθ1]2N(Dj,D‾,k)IΔtΣ(θ2)=Σj=1MI(θ2,Dj)N(Dj,D‾,k)=Σj=1MDj2αj216f2[2J1(αsinθ2)αsinθ2]2N(Dj,D‾,k)]]>

步驟三：平均粒徑的測量，將兩個散射角的光強變化值I_ΔΣ(θ₁)和I_ΔΣ(θ₂)代入下式就可以求得平均粒徑D₃₀，

IΔtΣIΔtΣ=K·I(θ1,D30)K·I(θ2,D30)=J12(π30λsinθ1)(πD30λsinθ2)·sin2θ2sin2θ1.]]>