[發(fā)明專利]一種獲得二維測線的方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410778762.4 | 申請日: | 2015-08-04 |
| 公開(公告)號: | CN104502961A | 公開(公告)日: | 2015-07-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 白志宏;胡永貴;郭武;睢永平;李偉波 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油天然氣集團公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 黨曉林;李永強 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 獲得 二維 方法 裝置 | ||
1.一種獲得二維測線的方法,其特征在于,該方法包括:
S1:獲取預(yù)設(shè)二維測線的起點坐標(biāo)和終點坐標(biāo);
S2:根據(jù)所述二維測線的起點坐標(biāo)、終點坐標(biāo)和預(yù)設(shè)第一偏移距確定所述二維測線的兩條偏移邊界線段;
S3:以所述二維測線的起點坐標(biāo)作為第一個拐點;
S4:以所述拐點為端點,根據(jù)預(yù)設(shè)拐角限值獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的射線;
S5:計算所述射線在所述兩條偏移邊界線段內(nèi)的射線段上的物理點的坡度值,并獲取所述射線段上所有物理點的坡度值和;
S6:比較每條射線段上所有物理點的坡度值和,取坡度值和最小的射線段作為優(yōu)化二維測線段;
S7:取所述優(yōu)化二維測線段往邊界線段方向的最后一個物理點為拐點;
S8:重復(fù)步驟S4到S7直至當(dāng)前拐點為最后的二維測線段往邊界線段方向的最后一個物理點,且所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點坐標(biāo)重合,獲得優(yōu)化的二維測線。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點坐標(biāo)重合包括:
當(dāng)所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點不重合時,調(diào)節(jié)最后一條二維測線段的拐角限值使所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點重合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述二維測線的起點坐標(biāo)、終點坐標(biāo)和預(yù)設(shè)第一偏移距確定所述二維測線的兩條偏移邊界線段包括:
根據(jù)所述起點坐標(biāo)和終點坐標(biāo)計算所述二維測線的方位角;
根據(jù)所述方位角和預(yù)設(shè)第一偏移距計算偏移邊界線段的端點坐標(biāo),所述偏移邊界線段是對稱位于預(yù)設(shè)二維側(cè)線兩側(cè)的兩條線段。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述計算所述射線在所述兩條偏移邊界線段內(nèi)的射線段上的物理點的坡度值,并獲取所述射線段上所有物理點的坡度值和包括:
獲取所述物理點的坐標(biāo);
根據(jù)所述物理點的坐標(biāo)通過數(shù)字高程模型獲得所述物理點的坡度值,并計算所述射線段上物理點的坡度值和。
5.一種獲得二維測線的裝置,其特征在于,該裝置包括:
坐標(biāo)獲取單元,用于獲取預(yù)設(shè)二維測線的起點坐標(biāo)和終點坐標(biāo);
偏移邊界線段獲取單元,用于根據(jù)所述二維測線的起點坐標(biāo)、終點坐標(biāo)和預(yù)設(shè)第一偏移距確定所述二維測線的兩條偏移邊界線段;
第一拐點確定單元,用于以所述二維測線的起點坐標(biāo)作為第一個拐點;
射線獲取單元,用于以所述拐點為端點,根據(jù)預(yù)設(shè)拐角限值獲取預(yù)設(shè)數(shù)量的射線;
坡度值獲取單元,用于計算所述射線在所述兩條偏移邊界線段內(nèi)的射線段上的物理點的坡度值,并獲取所述射線段上所有物理點的坡度值和;
測線段獲取單元,用于比較每條射線段上所有物理點的坡度值和,取坡度值和最小的射線段作為優(yōu)化二維測線段;
第二拐點確定單元,用于取所述優(yōu)化二維測線段往邊界線段方向的最后一個物理點為拐點;
測線獲取單元,用于將第二拐點確定單元獲得的拐點作為射線獲取單元的對應(yīng)的拐點,當(dāng)?shù)诙拯c確定單元獲得的當(dāng)前拐點為最后的二維測線段往邊界線段方向的最后一個物理點,且所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點坐標(biāo)重合,獲得優(yōu)化的二維測線。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置,其特征在于,所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點坐標(biāo)重合包括:
當(dāng)所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點不重合時,調(diào)節(jié)最后一條二維測線段的拐角限值使所述物理點與所述預(yù)設(shè)二維測線的終點重合。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的裝置,其特征在于,所述根據(jù)所述二維測線的起點坐標(biāo)、終點坐標(biāo)和預(yù)設(shè)第一偏移距確定所述二維測線的兩條偏移邊界線段包括:
根據(jù)所述起點坐標(biāo)和終點坐標(biāo)計算所述二維測線的方位角;
根據(jù)所述方位角和預(yù)設(shè)第一偏移距計算偏移邊界線段的端點坐標(biāo),所述偏移邊界線段是對稱位于預(yù)設(shè)二維側(cè)線兩側(cè)的兩條線段。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的裝置,其特征在于,所述計算所述射線在所述兩條偏移邊界線段內(nèi)的射線段上的物理點的坡度值,并獲取所述射線段上所有物理點的坡度值和包括:
獲取所述物理點的坐標(biāo);
根據(jù)所述物理點的坐標(biāo)通過數(shù)字高程模型獲得所述物理點的坡度值,并計算所述射線段上物理點的坡度值和。
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