[發明專利]三維腳型測量系統

在審

• 申請號: 201410766601.3
• 申請日: 2014-12-11
• 公開（公告）號: CN104757744A
• 公開（公告）日: 2015-07-08
• 發明（設計）人: 張志波;白曦東
• 申請（專利權）人: 北京博維恒信科技發展有限公司
• 主分類號: A43D1/02
• 分類號: A43D1/02
• 代理公司: 北京匯思誠業知識產權代理有限公司 11444
• 代理人: 張瑩;劉秀玲

技術領域

本申請涉及三維技術，尤其涉及三維腳型測量系統。

背景技術

傳統腳型測量方法都是直接測量的。腳的圍度測量要選用鞋用帶子尺。鞋用帶子尺是一條寬8mm長500mm的軟尺，正面是厘米刻度，背面是英國和法國鞋號標記。被測者右腳赤足平穩站立，由另一人來進行測量。測量步驟如下：

1、先在腳上找到各個件征部位點第一跖趾關節、第五跖趾關節、前跗骨突點、第五跖骨粗隆點、舟上彎點、腳腕最細處、腿肚最粗處、膝下腓骨粗隆下沿點。

2、用帶子尺按腳圍測量的內容，通過特征部位點逐一進行測量。

3、測量六個圍度時，都要求帶子持平貼在皮膚上，不能過緊，也不能過松。

4、在帶子尺環繞一周后，交叉讀取數值為各個圍度值。

5、記錄下訓量的各個圍度的數值。

傳統的腳的高度的測量是通過腳的各個特征部位點到水平面距離得到的尺寸，測量腳高時，一般使用高度測量尺進行測量。也可以用較長的直尺及三角板來代替。測量步驟如下：

1、使用高度測量尺測量時，可將高度尺的指針對準腳的特征部位點，然后從高度尺上讀出數據。

2、使用直尺時可直接膝下高、腿肚高、腳腕高、外踝骨中心下沿點高、和后跟突度點高。

3、使用直尺測量舟上彎點高、前跗骨突點高、第一跖趾關節高、拇指高時，要用三角板將這些特征點平移后再用直尺測量。

4、記錄下測量的各個高度數值。

從以上描述可以看出，傳統的三維腳型測量完全依靠人工操作，費時費力，而且容易失誤。

發明內容

本申請的目的旨在提供一種三維腳型測量系統，以解決上述的問題。

在本發明的實施例中提供了一種三維腳型測量系統，包括：三維腳型測量儀，用于從兩個方向分別獲取腳底圖像和腳背圖像；三維腳形圖像分析裝置，用于對腳底圖像進行分析，得到腳底的長寬特征尺寸；以及腳底圖像進行分析，得到腳背的高度特征尺寸。

優選的，三維腳型測量儀包括：光學結構；電子結構，用于對光學結構所照射的腳拍照，以獲取腳型三維圖像；機械結構，用于安裝光學結構和電子結構，以及支撐和容納腳在合適的位置，以被光學結構照射以及被電子結構拍照。

優選的，光學結構包括：紅外燈光源、白光或單色光光源、紅外透光膜、平面透鏡、承重透光玻璃板、側面透鏡和反射鏡；電子結構包括：主控電路板、相機和相機電路板、數據接口、電源適配器接口。

優選的，機械結構包括：殼體，殼體的外側頂部水平地設有通槽，殼體的內部形成圍繞通槽的空腔；通槽的寬度和深度適合容納一只腳，通槽的底部為承重透光玻璃板，通槽的一側側壁為背光板，背光板內布置白光或單色光光源，通槽的另一側側壁為側面透鏡；空腔內壁的底部設有腳底反射鏡安裝板，腳底反射鏡安裝板安裝反射鏡中的腳底反射鏡，使其光路正對承重透光玻璃板，空腔內壁的側部還設有側面反射鏡安裝板，側面反射鏡安裝板安裝反射鏡中的側面反射鏡，使其光路正對側面透鏡；側面反射鏡下端的下方還設有側面反射鏡截止板，用于固定側面反射鏡；空腔內還設有型材框架，用于支撐殼體，紅外燈光源設置在型材框架內，紅外透光膜設置在承重透光玻璃板之下。

優選的，側面透鏡包括重疊的凸透鏡護鏡和側面平面凸透鏡，凸透鏡護鏡朝向通槽，側面平面凸透鏡朝向側面反射鏡。

優選的，光學結構還包括腳底平面凸透鏡，紅外透光膜重疊在腳底平面凸透鏡之上，承重透光玻璃板重疊在紅外透光膜之上。

優選的，空腔內壁設有腳底相機安裝板，腳底相機安裝板安裝相機中的腳底相機，使其正對腳底反射鏡，空腔內壁還設有側面相機安裝板，側面相機安裝板安裝相機中的側面相機，使其正對側面反射鏡，空腔內壁還安裝主控電路板、相機電路板，殼體上設置朝外的數據接口和電源適配器接口，主控電路板電連接相機電路板、數據接口和電源適配器接口。

優選的，電子結構還包括觸控開關，設置在承重透光玻璃板之上，其與主控電路板電連接，用于檢測腳的接觸。

優選的，紅外燈光源與白光或單色光光源分別采用不同的電源。

優選的，三維腳型測量儀包括：左右并排連成一體的第一結構和第二結構，第一結構和第二結構分別包括一套光學結構、一套電子結構和一套機械結構，第一結構和第二結構用于同時測量兩只腳。

本發明上述實施例的三維腳型測量系統能自動地測量腳型的三維數據，省時省力，而且有較高的準確率。

應當理解的是，以上的一般描述和后文的細節描述僅是示例性的，并不能限制本申請。

附圖說明