[發(fā)明專利]使用氫氧化鉀溶液顯影UVIII的電子束光刻高分辨率圖形的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410722266.7 | 申請日: | 2014-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN104407499A | 公開(公告)日: | 2015-03-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 陳宜方;邵金海;陸冰睿 | 申請(專利權)人: | 復旦大學 |
| 主分類號: | G03F7/00 | 分類號: | G03F7/00;G03F7/32 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 使用 氫氧化鉀 溶液 顯影 uviii 電子束光刻 高分辨率 圖形 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明屬于納米尺度的微細加工技術領域,具體涉及一種電子束光刻高分辨率圖形的方法。
背景技術
隨著大規(guī)模集成電路的特征尺寸進入納米級,目前微電子工藝向著納米尺度發(fā)展,如何制作出好的納米結構成為納米階段的一個主要問題。這就對微納加工工藝提出了更高的要求。
電子束光刻如今成為納米電子器件制作的一個主要工藝手段,是目前國際上公認的高分辨率圖像制作技術,已經廣泛的在實驗室應用。電子束光刻機使用電子束作為束源,對電子束光刻膠進行曝光,使之發(fā)生交聚或者降解反應,再經過顯影,在光刻膠上制作納米結構。光刻膠通常是一種可以在溶液中溶解的有機聚合物。工藝中對光刻膠的指標一般有:分辨率、靈敏度、對比度、與襯底的粘附性。最傳統(tǒng)的電子束光刻膠是PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)。PMMA為正性光刻膠,分辨率高,但是最大的缺點是靈敏度很低因此曝光時間長,因此開發(fā)納米工藝成本高。美國Shipley公司的UVIII光刻膠是一種化學放大膠,具有較高的熱穩(wěn)定性,與傳統(tǒng)的PMMA光刻膠相比,靈敏度很高,分辨率也很高。由于電子束曝光是效率比較低的技術,曝光同樣的圖形,靈敏度高的光刻膠所用的時間會遠遠低于靈敏度低的光刻膠,所以減少曝光時間來降低工藝成本尤為重要。一般采用美國Shipley?公司生產的Shipley?CD26顯影液顯影UVIII光刻膠,但是該顯影液價格昂貴,運輸時間長,保存周期短,不適合大規(guī)模生產。本發(fā)明提出的氫氧化鉀溶液作為UVIII光刻膠的顯影液,具有制作方便,價格極其便宜,使用周期長,無需購買,并且顯影特性與CD26無差別。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提出一種簡單、方便、便宜的電子束光刻高分辨率圖形的方法。
本發(fā)明提出的電子束光刻高分辨率圖形的方法,采用用氫氧化鉀溶液顯影電子束光刻用的化學放大UVIII膠,具體步驟為:
步驟1、清洗基片,烘干;
步驟2、在基片上旋涂液態(tài)HMDS作為粘附層,用于粘結UVIII和基片;
步驟3、旋涂UVIII光刻膠,前烘;
步驟4、電子束光刻,對UVIII光刻膠進行曝光?;
步驟5、對曝光后的基片進行熱板后烘,對曝光后的UVIII光刻膠用0.5%~1.5%濃度的氫氧化鉀溶液作為顯影液顯影,定影,吹干,得到UVIII曝光后的圖形。
上述方案中,所述基片清洗采用微電子標準清洗工藝,即RCA清洗工藝。
上述方案中,所述前烘、后烘使用的是熱板,熱板的溫度為110~130℃,前烘時間50~70s,后烘時間為80~100s。
上述方案中,所述0.5%~1.5%濃度的氫氧化鉀溶液,由氫氧化鉀粉末和一定體積的去離子水混合而成的。氫氧化鉀粉末為分析純的氫氧化鉀粉末。所述定影用的定影液為去離子水,定影時間30~40s;所述吹干使用高純氮氣吹干。
有益效果
從上述技術方案可以看出,本發(fā)明提供的這種顯影電子束光刻的化學放大UVIII膠的方法,采用氫氧化鉀溶液顯影,與之前的用Shipley?CD26顯影液相比,主要有以下四方面的優(yōu)點:
1、采用0.5%~1.5%濃度的KOH溶液作為電子束光刻膠UVIII的顯影液能夠得到很好的顯影效果,得到的圖形的粗糙度較低;
2、由于UVIII是一種靈敏度很高的電子束光刻抗蝕劑,所以利用本發(fā)明具有很高的效率以及產率;
3、采用0.5%~1.5%濃度的KOH溶液作為電子束光刻膠UVIII的顯影液,得到的圖形的分辨率很好,單根線的最小分辨率達到了40nm。等間距光柵的最小尺寸做到了100nm。與CD26?相比基本無差別,并且可靠性高,重復性好,在納米光學結構制備中有著廣泛的應用前景;
4、與傳統(tǒng)的Shipley?CD26顯影液相比,本發(fā)明能夠顯著降低成本,本發(fā)明的成本大
約是前者成本的1/150。
附圖說明
圖1為本發(fā)明提供的用于電子束光刻膠UVIII的顯影液的配置方法流程圖。
圖2為本發(fā)明提供的用于氫氧化鉀溶液顯影UVIII電子束光刻膠的方法流程圖。
圖3為本發(fā)明提供的用于氫氧化鉀溶液顯影UVIII電子束光刻膠制作100納米等間距光柵的工藝流程圖。
圖4為本發(fā)明提供的用于氫氧化鉀溶液顯影UVIII電子束光刻膠制作100納米單根線工藝流程圖。
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