[發明專利]用于光纖通道的循環冗余校驗方法

在審

• 申請號: 201410707150.6
• 申請日: 2014-11-27
• 公開（公告）號: CN104410477A
• 公開（公告）日: 2015-03-11
• 發明（設計）人: 秦剛剛;王剛;劉劍鋒
• 申請（專利權）人: 中國航天科工集團第三研究院第八三五七研究所
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00;H04B10/07
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 劉東升

1.一種用于光纖通道的循環冗余校驗方法，其特征在于，其包括：

步驟S1：上層模塊控制光纖通道CRC校驗的開始與停止，并將給出待校驗的光纖通道數據提交給CRC校驗模塊進行CRC校驗，數據位寬為32位，數據長度為M；

上層模塊依據光纖通道協議幀定界符判斷一幀數據的開始和結束，當上層模塊檢測到SOF定界符時，表示一個光纖通道幀的開始，此時產生CRC校驗開始信號，并將此后接收到的光纖通道數據依次發送給CRC校驗模塊；當上層模塊檢測到EOF定界符時，表示一個光纖通道幀的結束，此時停止向CRC校驗模塊發送數據并產生CRC校驗停止信號；所述CRC校驗模塊包括：數據變換模塊、CRC余數計算模塊、余數比較模塊；

步驟S2：CRC校驗模塊接收到上層模塊的CRC校驗開始信號時啟動；具體由所述數據變換模塊接收上層模塊傳來的光纖通道數據，檢測所接收到的光纖通道數據是否為緊隨CRC校驗開始信號而來的有效數據，若是，則判斷其為第一個有效數據，將該有效數據取反并提交給CRC余數計算模塊；若否，則判斷其不為第一個有效數據，將該有效數據直接提交給CRC余數計算模塊；

步驟S3：CRC余數計算模塊將經過數據變換模塊變換后的有效數據根據如下CRC32校驗公式進行迭代運算，其中，Din為數據變換模塊提供的光纖通道數據；

所述CRC32校驗公式具體為：

D31＝D30

D30＝D29

D29＝D28

D28＝D27

D27＝D26

D26＝D25^D31^Din

D25＝D24

D24＝D23

D23＝D22^D31^Din

D22＝D21^D31^Din

D21＝D20

D20＝D19

D19＝D18

D18＝D17

D17＝D16

D16＝D15^D31^Din

D15＝D14

D14＝D13

D13＝D12

D12＝D11^D31^Din

D11＝D10^D31^Din

D10＝D9^D31^Din

D9＝D8

D8＝D7^D31^Din

D7＝D6^D31^Din

D6＝D5

D5＝D4^D31^Din

D4＝D3^D31^Din

D3＝D2

D2＝D1^D31^Din

D1＝D0^D31^Din

D0＝D31^Din

步驟S4：CRC校驗模塊根據上層模塊的CRC校驗停止信號停止CRC校驗模塊的工作；具體由CRC余數計算模塊根據上層模塊提供的CRC校驗停止信號，將步驟S3中余數迭代運算的結果提交給余數比較模塊；余數比較模塊將運算結果與光纖通道協議規定的CRC校驗用數據0xHC704DD7B進行比較，如果相同輸出數據1表示校驗正確，如果不同輸出數據0表示校驗錯誤，并將比較結果上報上層模塊。