[發(fā)明專利]適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410704329.6
• 申請(qǐng)日: 2014-11-30
• 公開（公告）號(hào): CN104502836A
• 公開（公告）日: 2015-04-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳樂;錢璐帥;李正坤;富雅瓊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)計(jì)量學(xué)院
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327
• 代理公司: 杭州求是專利事務(wù)所有限公司33200
• 代理人: 林超

1.?一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：包括由繼電器通道單元陣列而成M行×N列的被檢陣列（5）、串入并出移位寄存器（3）和并入串出移位寄存器（7）；

位于同一行的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸入端（10）串聯(lián)連接后作為行檢測(cè)端（4），各個(gè)行檢測(cè)端（4）分別各自連接到串入并出移位寄存器（3）的M路輸出端上，控制器（1）輸出端的逐行掃描信號(hào)輸入到串入并出移位寄存器（3）的輸入端中；位于同一列的所有繼電器通道單元的檢測(cè)信號(hào)輸出端（11）串聯(lián)連接作為列檢測(cè)端（6），各個(gè)列檢測(cè)端（6）分別各自連接到并入串出移位寄存器（7）的N路輸入端上，并入串出移位寄存器（7）輸出端輸出的反饋信號(hào)連接到控制器（1）輸入端。

2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的繼電器通道單元是由至少一個(gè)繼電器組成的。

3.?根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的繼電器通道單元由一個(gè)繼電器組成：繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端（12）作為檢測(cè)信號(hào)輸入端（10），位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端（12）同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端（13）作為檢測(cè)信號(hào)輸出端（11）；或者是，繼電器的一個(gè)動(dòng)觸點(diǎn)引出端（12）作為檢測(cè)信號(hào)輸出端（11），位于該動(dòng)觸點(diǎn)引出端（12）同一側(cè)的靜觸點(diǎn)引出端（13）作為檢測(cè)信號(hào)輸入端（10）。

4.?根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的繼電器通道單元由包含有至少兩個(gè)的多個(gè)繼電器組成，多個(gè)繼電器的待檢測(cè)通道依次串聯(lián)，位于其中一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端（13）作為檢測(cè)信號(hào)輸入端（10），位于另一端的一個(gè)繼電器的靜觸點(diǎn)引出端（13）作為檢測(cè)信號(hào)輸出端（11），繼電器的繞組高端、繞組低端作為繼電器動(dòng)作控制端。

5.?根據(jù)權(quán)利要求1～4任一所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的繼電器是常開型、常閉型或者轉(zhuǎn)換型的普通電磁繼電器或磁保持式繼電器。

6.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的串入并出寄存器（3）與并入串出寄存器（7）為CMOS型或TTL型。

7.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的控制器（1）與串入并出移位寄存器（3）采用不同電源進(jìn)行供電，串入并出移位寄存器（3）和并入串出移位寄存器（7）采用相同電源進(jìn)行供電。

8.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于掃描開關(guān)內(nèi)部繼電器的陣列式狀態(tài)檢測(cè)電路，其特征在于：所述的串入并出寄存器（3）與控制器（1）之間、并入串出寄存器（7）與控制器（1）之間各串接有一個(gè)隔離光耦（2）。