[發(fā)明專利]一種硅片冗余圖形填充方法及產(chǎn)品在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410693133.1 | 申請日: | 2014-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN104409445A | 公開(公告)日: | 2015-03-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 闞歡;魏芳;朱駿;呂煜坤;張旭升 | 申請(專利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/544 | 分類號: | H01L23/544;H01L27/02 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 王宏婧 |
| 地址: | 201203 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 硅片 冗余 圖形 填充 方法 產(chǎn)品 | ||
1.一種硅片冗余圖形填充方法,其特征在于包括:
根據(jù)距離硅片上有效電路的距離遠(yuǎn)近,將冗余圖形填充區(qū)域分成n個區(qū);
設(shè)定n個冗余圖形填充區(qū)域的填充密度值,距離有效電路越近的區(qū)域填充密度值越小,距離有效電路越遠(yuǎn)的區(qū)域填充密度值越大。
2.如權(quán)利要求1所述的填充方法,其特征在于:所述冗余圖形填充區(qū)域的大小,形狀及填充密度增加原則可根據(jù)具體要求而異。
3.如權(quán)利要求1所述的填充方法,其特征在于:所述冗余圖形填充區(qū)域分成3個區(qū),根據(jù)距有效電路的距離由近及遠(yuǎn)而分別是定填充密度值為30%,40%,50%。
4.一種含有冗余圖形的硅片,包括硅片,有效電路及冗余圖形,其特征在于:根據(jù)距離所述有效電路的距離遠(yuǎn)近,所述冗余圖形的填充區(qū)域被分為n個區(qū),且距離所述有效電路越近的區(qū)域其冗余圖形填充密度越小,而距離所述有效電路越遠(yuǎn)的區(qū)域其冗余同行填充密度越大。
5.如權(quán)利要求4所述的硅片,其特征在于:所述冗余圖形填充區(qū)域的大小,形狀及密度增加原則可根據(jù)具體要求而異。
6.如權(quán)利要求4所述的硅片,其特征在于:所述冗余圖形填充區(qū)域分成3個區(qū),根據(jù)距有效電路的距離由近及遠(yuǎn)而分別是定填充密度值為30%,40%,50%。
7.一種集成電路產(chǎn)品,其特征在于,在其中包含至少一塊權(quán)利要求4-6之一所述的硅片。
8.如權(quán)利要求7所述的集成電路產(chǎn)品,其特征在于:所述產(chǎn)品可以是智能手機(jī)或平板電腦。
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